美利体育登录入口官网:SS-EN ISO 3497:2001
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法（ISO 3497:2000）
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods (ISO 3497:2000)
- 标准号
- SS-EN ISO 3497:2001
- 发布
- 2001年
- 发布单位
- 瑞典标准研究所
- 当前最新
- SS-EN ISO 3497:2001
- 引用标准
- EN ISO 3497:2000 ISO 2080:1981 ISO 3497:2000
- 被代替标准
- SS-ISO 3497
- 本体
- X射线荧光 饱和厚度
- 适用范围
- 警告 本国际标准不涉及人员免受 X 射线伤害的防护问题。有关这一重要方面的信息，应参考当前的国际和国家标准以及当地法规（如果有）。
1.1 本国际标准规定了利用X射线光谱法测量金属覆盖层厚度的方法。
1.2 本国际标准适用的测量方法基本上是确定单位面积质量的方法。利用涂层材料密度的知识，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。
1.3 该测量方法允许同时测量最多三层的涂层系统，或同时测量最多三种组分的涂层厚度和成分。
1.4 给定涂层材料的实际测量范围主要取决于要分析的特征X射线荧光的能量和可接受的测量不确定度，并且可能因所使用的仪器系统和操作程序而异。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| X射线荧光 X-ray fluorescence | 当高强度入射X射线束照射到置于入射束路径中的材料时产生的二次辐射。注：二次发射具有该材料特有的波长和能量。 |
| 荧光辐射强度 intensity of fluorescent radiation | 由仪器测量的辐射强度x，以每秒计数（辐射脉冲）表示。 |
| 饱和厚度 saturation thickness | 超过该厚度后，荧光强度不再产生任何可美利体育登录入口官网变化的厚度。注：饱和厚度取决于荧光辐射的能量或波长、材料的密度和原子序数，以及入射和荧光辐射相对于材料表面的角度。 |
| 归一化强度 normalized intensity | coated specimen（镀层试样）获得的强度x与未镀层基材获得的强度x0之差，与厚度等于或大于饱和厚度xs的材料获得的强度xs与未镀层基材获得的强度x0之差（所有测量条件相同）的比值。注：归一化强度与测量和积分时间以及激发（入射辐射）强度无关。几何构型和激发辐射的能量会影响归一化计数率。xn的值在0到1之间。 |
| 中间镀层 intermediate coatings | 位于顶层镀层和基材之间且厚度小于各镀层饱和厚度的镀层。注：任何位于顶层镀层和基材（基底）之间且厚度超过饱和厚度的镀层，应被视为真正的基材，因为该镀层下的材料不会影响测量，在测量目的中可以忽略。 |
| 计数率 count rate | 仪器每单位时间记录的辐射脉冲数（见2.2）。 |
| 基材 basis material | 镀层沉积或形成的材料。 |
| 基底 substrate | 直接在其上沉积镀层的材料。注：对于单层或第一层镀层，基底与基材相同；对于后续镀层，中间镀层即为基底。 |
美利体育登录入口官网: SS-EN ISO 3497:2001 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| X射线光谱仪 未提及 | 用于测量镀层厚度的仪器，包含X射线管或放射性同位素激发源、色散系统（波长或能量色散）、探测器及多道分析器。 |
| 多道分析器 未提及 | 用于能量色散系统，调整以选择正确的能量波段，接收荧光辐射。 |