美利体育登录入口官网: ISO 20720:2018 发布历史
ISO 20720:2018由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2018-10-00。
ISO 20720:2018在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。
本标准有等同采用的 中文版
GB/T 41074-2021
微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法
ISO 20720:2018 微束分析.使用WDS和EDS分析一般粉末的样品制备方法的最新版本是哪一版?
最新版本是
ISO 20720:2018
。
- 标准号
- ISO 20720:2018
- 发布时间
- 2018-10
- 标准名称
- 微束分析 — 使用波谱仪和能谱仪分析一般粉末的样品制备方法
- ICS
- 71.040.99
- 发布机构
- 国际标准化组织 (ISO)
- 专利声明(未识别专利)
- 本文件中某些要素可能涉及专利权。ISO 不负责识别任何此类专利权。开发过程中确定的任何专利权的详细信息将在引言和/或 ISO 收到的专利声明列表中提供(参见 www.iso.org/patents)。
- 提出和归口信息
- 由技术委员会 ISO/TC 202 微束分析编制
- 版本历史
- 首次发布
- 编制原因和目的
- 尽管电子探针微分析 (EPMA) 和扫描电子显微镜 (SEM) 在粉末分析中有许多应用,但在单个颗粒分析方面存在一些困难,例如:(a) 防止样品制备过程中颗粒团聚;(b) 固定样品,特别是当微小颗粒数量很少时,无论是表面分析还是截面分析;(c) 具有核壳结构的小颗粒的截面制备;(d) 保护颗粒表面免受电子束辐照造成的损伤,特别是当颗粒表面敏感时;(e) 对抗电子辐射下样品的充电,防止粉末因静电排斥而散射或分散;(f) 当 X 射线产生体积大于颗粒体积时,定性或定量分析结果的解释。即使是粉末的元素成分分析,样品制备也会影响分析结果,因为颗粒聚集体或团聚体内部的粗糙度和/或空隙会影响 X 射线强度。为了应对这些困难,对颗粒分析的样品制备进行标准化非常重要。
- 技术内容特殊信息
- 本文件适用于直径大于 100 nm 且小于 100 ?m 的无机颗粒。仅适用于“一般”粉末的分析,即排除法医或痕量分析等特殊应用的程序。
ISO 20720:2018的历代版本如下:
本文件规定了使用安装在 EPMA 或 SEM 上的能量色散光谱仪 (EDS) 或波长色散光谱仪 (WDS) 分析粉末中颗粒的样品制备方法。粉末颗粒分析的制备方法按分析目的和颗粒大小分类。本文件适用于直径大于 100 nm 且小于 100 ?m 的无机颗粒。它仅适用于“一般”粉末的分析,这意味着它不包括法医或痕量分析等特殊应用的程序。
采用 ISO 20720 的发行版本有:
能量色散光谱 Energy-dispersive spectrometry | 一种用于美利体育登录入口官网X射线的光谱技术,常用于电子显微镜中的元素分析。 |
电子探针显微分析 Electron probe microanalysis | 利用细聚焦电子束轰击样品表面,产生特征X射线以进行材料分析的技术。 |
扫描电镜 Scanning electron microscopy | 通过聚焦电子束在样品表面扫描来生成高分辨率图像的显微技术。 |