美利体育登录入口官网:DIN EN 60749-42:2015
半导体器件 机械和气候测试方法 第42部分：温度和湿度存储（IEC 60749-42:2014）；德文版 EN 60749-42:2014
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014); German version EN 60749-42:2014
- 标准号
- DIN EN 60749-42:2015
- 发布
- 2015年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.01 半导体器分立件综合
- 总页数
- 10页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-42:2015-05
- 当前最新
- DIN EN 60749-42:2015-05
- 引用标准
- IEC 60749-20-2008
- 被代替标准
- DIN EN 60749-42:2012
- 本体
- 失效模式
- 适用范围
- 本文件规定了用于评估在环境条件（高温和高相对湿度）下使用的半导体元件寿命的测试方法。该方法用于根据腐蚀金属构建和互连技术的程度来估算封装在塑料外壳或其他外壳结构中的半导体芯片的寿命。该方法也可用于加速水分通过钝化层的迁移过程，或用于各种测试方法的预处理。
美利体育登录入口官网: DIN EN 60749-42:2015 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 试验箱 需具备维持规定温度和相对湿度条件的能力 | 用于进行温度和湿度存储测试的美利体育官网首页网址，其材料不应因高湿度而出现磨损和老化现象，且需防止冷凝水滴滴落到被测元件上。 |