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美利体育登录入口官网:JEDEC JESD51-12.01-2012
报告和使用电子封装热信息的指南

Guidelines for Reporting and Using Electronic Package Thermal Information


标准号
JEDEC JESD51-12.01-2012
发布
2012年
总页数
28页
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
 
 
本体
结温
适用范围
此文档为电子封装热信息的报告和使用提供指南,适用于基于JEDEC JESD51标准生成的热数据。其目标包括:1)确保不同供应商一致地报告热信息;2)帮助用户正确理解、解释和使用报告的数据,以便在标准化测试条件下比较不同封装的热性能。
术语描述
结到环境热阻
Junction-to-Ambient Thermal Resistance
符号为θJA,指在自然对流环境下,芯片结温与环境温度之差与耗散功率的比值。
结到移动空气热阻
Junction-to-Moving-Air Thermal Resistance
符号为θJMA,指在强制对流(风洞)环境下,芯片结温与移动空气温度之差与耗散功率的比值。
结到外壳热阻
Junction-to-Case Thermal Resistance
符号为θJCx,指热量主要通过封装顶部或底部流向时,结温与外壳测量点温度之差与功率的比值。
结到板热阻
Junction-to-Board Thermal Resistance
符号为θJB,指在2s2p测试板上,热量主要流向印制电路板时,结温与板温度之差与功率的比值。
结到顶表征参数
Junction-to-Top Characterization Parameter
符号为ΨJT,用于在应用环境中估算结温的热参数,定义为结温与封装顶部中心温度之差与总功率的比值。
结到板表征参数
Junction-to-Board Characterization Parameter
符号为ΨJB,用于在应用环境中估算结温的热参数,定义为结温与板温度之差与总功率的比值。
紧凑热模型
Compact Thermal Model
简化热阻网络模型,如两电阻模型或DELPHI模型,用于系统级热仿真分析。

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热测试芯片

引线键合型芯片或倒装芯片型芯片
用于在测试板上模拟封装热行为的专用芯片。
热电偶

36 gauge Type J或K型,或40 gauge Type T型
用于测量封装顶部、板面或外壳温度的传感器。
风洞

具有特定截面尺寸(如305mm x 305mm)的美利体育官网首页网址
用于进行强制对流环境下的热测试,测量θJMA等参数。

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