美利体育登录入口官网:GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
GBT5594.8-1985, GB5594.8-1985
2016-01
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- 标准号
- GB/T 5594.8-1985
- 别名
- GBT5594.8-1985
GB5594.8-1985 - 发布
- 1985年
- ICS
-
31.030
- 总页数
- 5页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 替代标准
- GB/T 5594.8-2015
- 当前最新
- GB/T 5594.8-2015
- 本体
- 陶瓷材料
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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| 偏光显微镜 | 用于观察陶瓷材料中的晶相和结构。 |
| 数字显微镜 | 用于测量晶粒大小和其他显微特征。 |
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