| 术语 | 描述 |
|---|---|
| Burn-In Burn-In | 一种测试方法,用于光学仪器和含有光学组件和/或其电子组件的仪器,系统关闭或运行,并暴露于其操作、存储、运输或其他温度循环,与正弦或随机振动以及欠压或过压操作相结合 |
| Run-In Run-In | 一种测试方法,用于光学仪器和含有光学组件和/或其电子组件的仪器,系统关闭或运行,并暴露于其操作、存储、运输或其他温度循环,与正弦或随机振动以及欠压或过压操作相结合 |
| Environmental Stress Screening (ESS) Environmental Stress Screening (ESS) | 一种测试方法,用于光学仪器和含有光学组件和/或其电子组件的仪器,系统关闭或运行,并暴露于其操作、存储、运输或其他温度循环,与正弦或随机振动以及欠压或过压操作相结合 |
| combined test methods combined test methods | 组合测试方法,如Burn-In、Run-In或Environmental Stress Screening (ESS),用于时间缩短、损伤引发测试等更高严重程度的测试 |
| stress factors stress factors | 具有不同影响的应力因素,测试方法的选择应针对产品具体化,因此未标准化 |
| 振动控制系统 根据IEC 60068-2-64 | 用于控制加速度功率谱密度的振动控制系统 |
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