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美利体育登录入口官网:IEC 60749-40:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge


标准号
IEC 60749-40:2011
发布
2011年
国际标准分类(ICS)
31.080.01 半导体器分立件综合   
总页数
48页
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60749-40:2011
 
 
引用标准
IEC 60749-37
被代替标准
IEC 47/2094/FDIS:2011
 
 
本体
应变计 跌落测试
适用范围
IEC 60749 的这一部分旨在评估和比较手持电子产品应用的表面贴装半导体器件在加速测试环境中的跌落性能,其中电路板过度弯曲会导致产品故障。目的是标准化测试方法,以提供表面安装半导体器件跌落测试性能的可重复评估,同时复制产品级测试期间通常观察到的故障模式。该国际标准使用应变仪来测量元件附近电路板的应变和应变率。测试方法 IEC 60749-37 使用加速度计来测量所施加的机械冲击持续时间和强度,其与安装在标准板上的给定组件上的应力成正比。详细规范应说明使用哪种测试方法。注1:虽然本试验可以评估安装方法及其条件@印刷线路板的设计@焊接材料@半导体器件的安装能力@等组合在一起的结构@,但它并不仅仅评估半导体器件的安装能力。半导体器件。注2:该测试的结果受到焊接条件@印刷线路板焊盘图案设计@焊接材料@等之间差异的强烈影响。因此@在进行该测试时@有必要认识到该测试不能从本质上保证半导体器件焊点的可靠性。注3:当该测试产生的机械应力在美利体育官网首页网址的实际应用中没有发生时,则无需进行该测试。
术语描述
器件
device
待表面贴装的单个电子组件。
跌落冲击强度
drop impact strength
由夹具固定的测试基板从定义高度跌落时的强度,表现为导致器件与印刷电路板铜焊盘之间连接处断裂的循环跌落次数。
应变
strain
基板表面的应变。当测试基板发生变形时观察到的拉伸程度。注:应变是一个数值无量纲量。
最大应变
maximum strain
应变波形中拉伸侧(+)的值。
脉冲持续时间
pulse duration
从加速度首次达到其指定峰值水平的 10% 的时刻,到加速度在达到该峰值水平后首次返回到指定峰值水平的 10% 的时刻之间的持续时间。
瞬时中断美利体育登录入口官网器
momentary interruption detector
美利体育登录入口官网环形电路中极短电气不连续(瞬时中断)的美利体育官网首页网址。

美利体育登录入口官网: IEC 60749-40:2011 中提到的仪器美利体育官网首页网址

应变测量仪器

采样率高于 150 kHz
用于在跌落测试期间测量应变的仪器,高采样率确保能正确捕捉最大应变的峰值和波形。
瞬时中断美利体育登录入口官网器

分辨率需能美利体育登录入口官网 100μs 的瞬时不连续
用于美利体育登录入口官网环形电路中极短电气不连续的美利体育官网首页网址,用于确定跌落测试后的失效情况。
跌落测试美利体育官网首页网址

无特定型号,需设计为从指定高度跌落带有凸起底座的基板固定夹具
用于将带有凸起底座的基板固定夹具从指定高度跌落至碰撞平面,以施加自由落体或类似情况产生的冲击的美利体育官网首页网址。

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