美利体育登录入口官网:IEC 60749-40:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第40部分:使用应变计的板级跌落试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
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- 标准号
- IEC 60749-40:2011
- 发布
- 2011年
- ICS
-
31.080.01
- 总页数
- 48页
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-40:2011
- 引用标准
- IEC 60749-37
- 被代替标准
- IEC 47/2094/FDIS:2011
- 本体
- 应变计 跌落测试
IEC 60749 的这一部分旨在评估和比较手持电子产品应用的表面贴装半导体器件在加速测试环境中的跌落性能，其中电路板过度弯曲会导致产品故障。目的是标准化测试方法，以提供表面安装半导体器件跌落测试性能的可重复评估，同时复制产品级测试期间通常观察到的故障模式。该国际标准使用应变仪来测量元件附近电路板的应变和应变率。测试方法 IEC 60749-37 使用加速度...
美利体育登录入口官网: IEC 60749-40:2011 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 应变测量仪器 采样率高于 150 kHz | 用于在跌落测试期间测量应变的仪器，高采样率确保能正确捕捉最大应变的峰值和波形。 |
| 瞬时中断美利体育登录入口官网器 分辨率需能美利体育登录入口官网 100μs 的瞬时不连续 | 用于美利体育登录入口官网环形电路中极短电气不连续的美利体育官网首页网址，用于确定跌落测试后的失效情况。 |
| 跌落测试美利体育官网首页网址 无特定型号，需设计为从指定高度跌落带有凸起底座的基板固定夹具 | 用于将带有凸起底座的基板固定夹具从指定高度跌落至碰撞平面，以施加自由落体或类似情况产生的冲击的美利体育官网首页网址。 |
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