| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 划痕 Scratch | 永久性的线性表面特征。在本标准中,定义为宽度至少为 4 ?m 且长度至少为宽度 30 倍的线性表面特征。 |
| 缺陷 Defect | 光纤端面上所有非线性的不规则特征。包括颗粒、其他碎片、凹坑、碎片、毛刺崩边等。 |
| 核心区域 Core Zone | 光纤端面中心区域,单模光纤直径为 0 ?m 至 25 ?m,多模光纤直径为 0 ?m 至 65 ?m。 |
| 包层区域 Cladding Zone | 围绕核心的区域,单模光纤直径为 25 ?m 至 120 ?m,多模光纤直径为 65 ?m 至 120 ?m。 |
| 粘合剂区域 Glue Zone | 包层与连接器套管之间的区域,直径为 120 ?m 至 130 ?m。 |
| 接触区域 Contact Zone | 连接器端面最外圈区域,直径为 130 ?m 至 250 ?m,用于与其他连接器接触。 |
| 低分辨率系统 Low-resolution system | 用于现场抛光或常规检查的显微镜系统,最小放大倍数可显示至少 250 ?m 的视。⒛芡怀鱿允局本吨辽傥 2 ?m 的缺陷。 |
| 高分辨率系统 High-resolution system | 用于精确检查抛光后光纤或进货质量控制的显微镜系统,最小放大倍数可显示至少 120 ?m 的视。⒛芡怀鱿允究矶戎辽傥 0.2 ?m、深度至少为 0.003 ?m 的划痕。 |
| 视频显微镜 无特定型号,需具备数字化成像及算法分析能力 | 用于方法 B 和 C,将图像传输至显示器,方法 C 还需具备软件自动评估功能。 |
| 光学显微镜 无特定型号,需具备合适支架、光源、聚焦装置及测量工具 | 用于方法 A(直接观察)和 B(视频显微镜),通过目镜或显示器观察光纤端面。 |
| 原子力显微镜 无特定型号 | 用于校准伪迹的定量测量,确认划痕的宽度和深度。 |
| 扫描电子显微镜 无特定型号 | 用于校准伪迹的定量测量,确认划痕的宽度和深度。 |
| 纳米压痕测试系统 符合 ISO 14577-2 标准 | 用于制造高分辨率校准伪迹,通过施加微小力在光纤端面制造可控划痕。 |
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