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美利体育登录入口官网:GB/T 1553-2009
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

GBT1553-2009, GB1553-2009

被代替

美利体育登录入口官网: GB/T 1553-2009 发布历史

GB/T 1553-2009由国家市场监督管理总局 国家标准化管理员会 CN-GB 发布于 2009-10-30，并于 2010-06-01 实施，于 2024-03-01 废止。

GB/T 1553-2009 在中国标准分类中归属于: H80 半金属与半导体材料综合，在国际标准分类中归属于: 29.045 半导体材料。

GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法的最新版本是哪一版？

最新版本是 GB/T 1553-2023 。

GB/T 1553-2009 发布之时，引用了标准

• GB/T 14264-2009 半导体材料术语
• GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
• GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

GB/T 1553-2009的历代版本如下：

• 2023年 GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
• 2009年 GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
• 1997年 GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测定方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。 本标准为脉冲光方法。这种方法不破坏试样的内在特性，试样可以重复测试，但要求试样具有特殊的条形尺寸和淹没的表面，见表1。 本标准可测的最低寿命值为10μs，取决于光源的余辉。不适用于抛光片的验收测试。

标准号

GB/T 1553-2009

别名

GBT1553-2009
GB1553-2009

发布

2009年

ICS

29.045

总页数

15页

发布单位

国家市场监督管理总局

替代标准

GB/T 1553-2023

当前最新

GB/T 1553-2023

 

 

引用标准

GB/T 14264-2009 GB/T 1550-1997 GB/T 1551-2009

被代替标准

GB/T 1553-1997

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