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美利体育登录入口官网:IEC 61164:2004
可靠性增长.统计试验和评估方法

Reliability growth - Statistical test and estimation methods


标准号
IEC 61164:2004
发布
2004年
国际标准分类(ICS)
29.020 电气工程综合   
总页数
116页
中文版
GB/T 39844-2021 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 61164:2004
 
 
引用标准
IEC 60050-191:1990 IEC 60300-3-5:2001 IEC 60605-4 IEC 60605-6 IEC 61014:2003
被代替标准
IEC 56/920/FDIS:2003 IEC 61164:1995
 
 
本体
可靠性增长 幂律模型 平均故障间隔时间
适用范围
给出基于可靠性改进计划中生成的故障数据的可靠性增长评估的模型和数值方法。这些程序涉及产品可靠性和良好性能的增长、估计、置信区间。
术语描述
可靠性目标
reliability goal
产品应在可靠性增长计划结束时达到的期望可靠性水平。
初始可靠性
initial reliability
在设计早期阶段,在通过设计改进减轻任何潜在失效模式或其原因之前,对产品估计的可靠性。
设计阶段可靠性增长模型
reliability growth model for the design phase
考虑潜在设计改进及其幅度的数学模型,用于在数学上表达设计期间从开始到结束的可靠性增长。
产品平均故障率
average product failure rate
根据产品在预定时间段内估计的可靠性计算出的平均故障率。
延迟修改
delayed modification
在测试结束时才纳入产品的纠正性修改。
改进有效性因子
improvement effectiveness factor
通过纠正性修改,系统性失效强度减少的分数。
I 型试验
type I test
时间终止试验,即在预定时间终止的可靠性增长试验,或数据可用时间不对应失效的试验。
II 型试验
type II test
失效终止试验,即在累积了指定数量的失效后终止的可靠性增长试验,或数据可用时间对应失效的试验。

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计算机程序

无特定型号
用于执行可靠性增长模型参数估计、置信区间计算和拟合优度检验的算法工具。

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