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美利体育登录入口官网:JIS C 2170:2004
静电学.用于防止静电电荷累积的固体平面材料的电阻和电阻率测定的试验方法

Electrostatics -- Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation

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标准号
JIS C 2170:2004
发布
2004年
国际标准分类(ICS)
17.220.99 有关电学和磁学的其他标准   29.020 电气工程综合   
总页数
19页
发布单位
日本工业标准调查会
替代标准
JIS C 2170 ERRATUM 1:2010
当前最新
JIS C 2170:2004 ERRATUM 1:2011
 
 
引用标准
IEC 60093:1980 IEC 60167:1964 IEC 60212:1971 IEC 60260:1968 ISO 1853:1998 ISO 2951:1974 ISO 3915:1981
 
 
本体
电阻
适用范围
本标准规定了测试 104-10I2Ω 范围内的固体平面材料的电阻和电阻率的方法,以防止静电电荷积聚。它考虑了现有的 ISO/IEC 标准和其他已发布的信息,并提供了有关适当方法的建议和指导。注:本标准对应的国际标准如下所示。根据ISO/IEC Guide 21,表示对应程度的符号有IDT(匹配)、MOD(修改)、NEQ(非等效)。
术语描述
体积电阻
volume resistance
施加在试样两个相对表面上的两个电极之间的直流电压(V)与电极之间的稳态电流(A)之比。
体积电阻率
volume resistivity
材料内部的直流场强(V/m)与稳态电流密度(A/m?)之比。在实际应用中,相当于单位长度的立方体在两个相对表面有电极时的体积电阻。
表面电阻
surface resistance
施加在试样表面两个电极之间的直流电压(V)与电极之间的电流(A)之比。
表面电阻率
surface resistivity
相当于具有两个相对侧电极的正方形区域的表面电阻。其 SI 单位有时称为Ω/sq(欧姆每平方)。
测量电极
measuring electrode
与被测试样接触的具有规定形状、尺寸和配置的导体。

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体积电阻测试夹具

包含 1.0 x 10^12 Ω ±5% 电阻器
用于验证体积电阻测量系统高阻范围的装置。
安培表

量程至少从 10 pA 到 10 mA,精度±5%
用于测量通过试样的电流,当欧姆表无电流读数功能时使用。
欧姆表

集成仪器,读数范围至少从 1x10^3 Ω 到 1x10^13 Ω
用于直接测量电阻的集成仪器。
直流电源

开路电压 100V ±5%(测量 1x10^6 Ω及以上)或 10V ±5%(测量小于 1x10^6 Ω)
用于提供测试所需的直流电压。
表面电阻测试夹具

包含 20 个 10 MΩ ±1% 电阻器,符合 8.2.1 电极尺寸
用于验证表面电阻测量系统低阻范围的装置。

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