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美利体育登录入口官网:JIS K 1468-3:1999
酸性莹石.化学分析方法.第3部分:硅含量的测定

Acid-grade fluorspar -- Method for chemical analysis Part 3: Determination of silica content

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标准号
JIS K 1468-3:1999
发布
1999年
国际标准分类(ICS)
73.080 非金属矿   
总页数
15页
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS K 1468-3:1999
 
 
引用标准
ISO 5438:1993 ISO 565:1990 ISO 8868:1989 JIS K 0119 JIS M 8100 JIS Z 8801
 
 
本体
萤石
适用范围
本标准规定了采用钼蓝分光光度法和X射线荧光分析法定量氢氟酸用萤石中二氧化硅含量的方法。荧光X射线分析方法在附件1(规范性)中规定。 本方法适用于含二氧化硅(SiO)0.05-4.0%的产品。
术语描述
吸光光度法
Spectrometric method
通过测量溶液对特定波长光的吸收程度来测定二氧化硅含量的方法。
荧光X射线分析法
Fluorescent X-ray analysis method
通过测量样品受X射线照射后产生的特征X射线荧光强度来测定二氧化硅含量的方法。
检量线
Calibration curve
通过测定标准溶液和对照溶液,以二氧化硅含量为横坐标,正吸光度为纵坐标绘制的曲线,用于计算样品含量。
空试验
Blank test
在不加试样的情况下,按照与试样分析相同的步骤进行的试验,用于校正试剂和器皿带来的误差。

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pH计

最小刻度0.05 pH
用于调节溶液pH值至约2。

腾瑞便携式酸度计

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ChemTron pH 电极

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ChemTron 电导率电极

ChemTron 电导率电极

ChemTron 溶解氧电极

ChemTron 溶解氧电极

分光光度计

光路长2 cm,最大透过波长约450 nm
用于测定显色溶液在最大吸收波长处的吸光度。
干燥器

可调节至105℃±2℃
用于试样的干燥处理。
荧光X射线分析装置

具有足够的测定灵敏度,适用于0.05%~4.0%二氧化硅含量范围
用于照射样品并测量产生的荧光X射线强度。

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