美利体育登录入口官网:JIS K 1468-3:1999
酸性莹石.化学分析方法.第3部分:硅含量的测定
Acid-grade fluorspar -- Method for chemical analysis Part 3: Determination of silica content
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美利体育登录入口官网: JIS K 1468-3:1999 发布历史
JIS K 1468-3:1999由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 1999-04-20。
JIS K 1468-3:1999 在中国标准分类中归属于: G10 无机化工原料综合，在国际标准分类中归属于: 73.080 非金属矿。
JIS K 1468-3:1999 酸性莹石.化学分析方法.第3部分:硅含量的测定的最新版本是哪一版？
最新版本是 JIS K 1468-3:1999 。
- 标准号
- JIS K 1468-3:1999
- 发布时间
- 1999-04-20
- 标准名称
- 氢氟酸用萤石分析方法 第3部：二氧化硅含量的测定
- 发布机构
- 日本规格协会
- 编制依据
- 基于ISO 5438:1993，为适应日本工业规格（JIS）的国际化整合化推进及规制缓和推进计划而制定。
- 文件关系说明
- 本规格基于1993年发布的国际标准ISO 5438制定，与ISO 5438:1993一致或同等。
- 与国际文件关系
- 对应ISO 5438:1993，Acid-grade and ceramic-grade fluorspar—Determination of silica content—Reduced-molybdosilicate spectrometric method。
- 提出和归口信息
- 由日本无机药品协会委托，日本工业标准调查会化学部会审议制定。
- 起草信息
- 原案作成委员会由日本无机药品协会、通商产业省、日本海事检定协会、日本铁金属株式会社等单位组成。
- 版本历史
- 1966年制定，1978年改正，1999年基于ISO标准重新制定。
- 强制性条文说明（适用于强制性标准）
- 本标准为日本工业规格，非强制性标准。
- 解释单位
- 日本工业标准调查会化学部会
- 编制原因和目的
- 为了适应规制缓和推进计划，推进JIS与国际标准的整合，消除贸易壁垒。
- 技术内容特殊信息
- 规定了两种测定方法：吸光光度法（主法）和荧光X射线分析法（附录规定）。
- 分部分标准的各部分关系
- 本标准为JIS K 1468的第3部分，前两部分未在此文档中提及。
- 与法规或其他标准的关系说明
- 依据工业标准化法制定，与ISO 5438:1993保持一致。
JIS K 1468-3:1999 发布之时，引用了标准
- ISO 5438:1993 酸性和陶瓷性荧石 硅含量的测定 还原硅钼酸盐光谱法
- ISO 565:1990 试验筛 金属丝编织网、金属穿孔板和电成型薄板 筛孔的公称网孔尺寸
- ISO 8868:1989 荧石 取样和样品的制备
- JIS K 0119 X射线荧光光谱测定法总则*， 2008-04-20 更新
- JIS M 8100 粉末材料.取样方法通则(勘误1)*， 2000-10-10 更新
- JIS Z 8801 标准筛
* 在 JIS K 1468-3:1999 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
JIS K 1468-3:1999的历代版本如下：
- 1999年 JIS K 1468-3:1999 酸性莹石.化学分析方法.第3部分:硅含量的测定
本标准规定了采用钼蓝分光光度法和X射线荧光分析法定量氢氟酸用萤石中二氧化硅含量的方法。荧光X射线分析方法在附件1（规范性）中规定。 本方法适用于含二氧化硅（SiO）0.05-4.0%的产品。
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- 标准号
- JIS K 1468-3:1999
- 发布
- 1999年
- ICS
-
73.080
- 总页数
- 15页
- 发布单位
- 日本工业标准调查会
- 当前最新
- JIS K 1468-3:1999
- 引用标准
- ISO 5438:1993 ISO 565:1990 ISO 8868:1989 JIS K 0119 JIS M 8100 JIS Z 8801
- 本体
- 萤石
美利体育登录入口官网: JIS K 1468-3:1999 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| pH计 最小刻度0.05 pH | 用于调节溶液pH值至约2。 |
| 分光光度计 光路长2 cm，最大透过波长约450 nm | 用于测定显色溶液在最大吸收波长处的吸光度。 |
| 干燥器 可调节至105℃±2℃ | 用于试样的干燥处理。 |
| 荧光X射线分析装置 具有足够的测定灵敏度，适用于0.05%~4.0%二氧化硅含量范围 | 用于照射样品并测量产生的荧光X射线强度。 |
