美利体育登录入口官网:ISO 4287:1997
产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版
Geometrical Product Specification (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters
- 标准号
- ISO 4287:1997
- 发布
- 1997年
- 国际标准分类(ICS)
- 01.040.17 计量学和测量、物理现象 (词汇) 17.040.30 测量仪器仪表
- 总页数
- 36页
- 中文版
- GB/T 3505-2009 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 4287:1997/Cor 1:1998
- 当前最新
- ISO 4287:1997/Amd 1:2009
- 引用标准
- ISO 11562:1996 ISO 3274:1996 ISO 4288:1996
- 本体
- 表面纹理 轮廓法
- 适用范围
- 本国际标准规定了通过分析方法测定表面纹理（粗糙度、波纹度和初级轮廓）的术语、定义和参数。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 轮廓滤波器 profile filter | 将轮廓分离为长波分量和短波分量的滤波器。 |
| As 轮廓滤波器 As profile filter | 定义粗糙度分量与表面中存在的更短波分量之间边界的滤波器。 |
| Ac 轮廓滤波器 Ac profile filter | 定义粗糙度分量与波纹度分量之间边界的滤波器。 |
| Af 轮廓滤波器 Af profile filter | 定义波纹度分量与表面中存在的更长波分量之间边界的滤波器。 |
| 坐标系 coordinate system | 定义表面纹理参数的坐标系，通常采用右手笛卡尔直角坐标系。 |
| 真实表面 real surface | 限制物体并将其与周围介质分隔开的表面。 |
| 表面轮廓 surface profile | 真实表面与指定平面相交产生的轮廓。 |
| 主轮廓 primary profile | 未经滤波处理的原始表面轮廓，是评估主轮廓参数的基础。 |
| 粗糙度轮廓 roughness profile | 通过应用 Ac 轮廓滤波器从主轮廓中抑制长波分量后得到的轮廓。 |
| 波纹度轮廓 waviness profile | 通过依次应用 Af 和 Ac 轮廓滤波器从主轮廓中分离出的轮廓，抑制了长波和短波分量。 |
| 平均线 mean lines | 用于定义轮廓参数参考的线，包括粗糙度轮廓平均线、波纹度轮廓平均线和主轮廓平均线。 |
| 基准长度 sampling length | 沿 X 轴方向用于识别表征被测轮廓的不规则性的长度。 |
| 评定长度 evaluation length | 沿 X 轴方向用于评定被测轮廓的长度，可包含一个或多个基准长度。 |
| P 参数 P-parameter | 在主轮廓上计算的参数。 |
| R 参数 R-parameter | 在粗糙度轮廓上计算的参数。 |
| W 参数 W-parameter | 在波纹度轮廓上计算的参数。 |
| 轮廓峰 profile peak | 从材料指向周围介质的方向，连接轮廓与 X 轴两个相邻交点的轮廓部分。 |
| 轮廓谷 profile valley | 从周围介质指向材料的方向，连接轮廓与 X 轴两个相邻交点的轮廓部分。 |
| 轮廓元素 profile element | 一个轮廓峰及其相邻的轮廓谷。 |
| 纵坐标 ordinate | 在任意位置 x 处被测轮廓的高度值 z(x)。 |
| 局部斜率 local slope | 在位置 xi 处被测轮廓的斜率 dz/dx。 |
| 轮廓峰高 profile peak height | X 轴与轮廓峰最高点之间的距离。 |
| 轮廓谷深 profile valley depth | X 轴与轮廓谷最低点之间的距离。 |
| 轮廓元素高度 profile element height | 轮廓元素的高度与深度之和。 |
| 轮廓元素宽度 profile element width | 被轮廓元素截断的 X 轴线段的长度。 |
| 轮廓承载长度 material length of profile | 在给定水平 c 处，由平行于 X 轴的直线切割轮廓元素所得到的各段长度之和。 |
| 最大轮廓峰高 maximum profile peak height | 在基准长度内最大的轮廓峰高。 |
| 最大轮廓谷深 maximum profile valley depth | 在基准长度内最大的轮廓谷深。 |
| 最大轮廓高度 maximum height of profile | 在基准长度内最大轮廓峰高与最大轮廓谷深之和。 |
| 轮廓元素平均高度 mean height of profile elements | 基准长度内轮廓元素高度的平均值。 |
| 轮廓总高度 total height of profile | 在评定长度内最大轮廓峰高与最大轮廓谷深之和。 |
| 算术平均偏差 arithmetical mean deviation | 基准长度内纵坐标绝对值 Z(X) 的算术平均值。 |
| 均方根偏差 root mean square deviation | 基准长度内纵坐标值 Z(X) 的均方根值。 |
| 偏度 skewness | 基准长度内纵坐标值 Z(X) 的立方平均值与 Pq、Rq 或 Wq 的立方之比，表征轮廓分布的不对称性。 |
| 峰度 kurtosis | 基准长度内纵坐标值 Z(X) 的四次方平均值与 Pq、Rq 或 Wq 的四次方之比，表征轮廓分布的陡峭程度。 |
| 轮廓元素平均宽度 mean width of the profile elements | 基准长度内轮廓元素宽度的平均值。 |
| 轮廓斜率均方根 root mean square slope | 基准长度内纵坐标斜率 dZ/dX 的均方根值。 |
| 轮廓材料比率 material ratio of the profile | 在给定水平 c 处的轮廓材料长度 Ml(c) 与评定长度之比。 |
| 轮廓材料比率曲线 material ratio curve of the profile | 表示轮廓材料比率随水平变化的曲线，也称为 Abbott-Firestone 曲线。 |
| 轮廓截面高度差 profile section height difference | 两个给定材料比率的截面水平之间的垂直距离。 |
| 相对材料比率 relative material ratio | 在相对于参考 C0 的截面水平 R&处确定的材料比率。 |
| 轮廓高度分布曲线 profile height amplitude curve | 表示评定长度内纵坐标 Z(x) 的样本概率密度函数的曲线。 |
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| 接触式轮廓仪 符合 ISO 3274:1996 规定的标称特性 | 用于通过接触式触针测量表面轮廓的仪器，需符合相位校正滤波器的计量特性。 |
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