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美利体育登录入口官网:ISO 4287:1997
产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版

Geometrical Product Specification (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters


美利体育登录入口官网: ISO 4287:1997 发布历史

ISO 4287:1997由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 1997-04。

ISO 4287:1997 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法,在国际标准分类中归属于: 01.040.17 计量学和测量、物理现象 (词汇),17.040.30 测量仪器仪表。

本标准有等同采用的 中文版 GB/T 3505-2009 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.术语、定义及表面结构参数

ISO 4287:1997 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版的最新版本是哪一版?

最新版本是 ISO 4287:1997/Amd 1:2009 。

标准号
ISO 4287:1997
发布时间
1997-04-01
标准名称
产品几何量技术规范 (GPS) - 表面纹理:轮廓法 术语、定义和表面纹理参数
发布机构
国际标准化组织 (ISO)
编制依据
基于 ISO/TC 3、ISO/K 10、SC 5 和 ISO/K 57 联合协调组的研究工作
文件关系说明
本标准为 GPS 通用标准,影响表面纹理标准链的第 2 环
代替/废止文件关系
取消并取代 ISO 4287-1:1984
与国际文件关系
与 ISO 11562 和 ISO 3274 共同定义波纹度轮廓、主轮廓及其参数
提出和归口信息
由 ISO/TC 57 技术委员会(表面计量学及表面特性)制定
起草信息
由 ISO/TC 57/SC 1 制定
版本历史
第一版,1997 年发布
解释单位
国际标准化组织 (ISO)
编制原因和目的
对 ISO 4287-1:1984 进行重大重写和重组,与 ISO 11562 和 ISO 3274 一起一致地定义波纹度轮廓、主轮廓及其参数
技术内容特殊信息
附录 A 为本标准的组成部分,附录 B、C、D、E 仅供参考
分部分标准的各部分关系
本标准为单一标准,无分部分关系
与法规或其他标准的关系说明
与 GPS 矩阵模型相关,详见附录 D
风险分析或特殊提示
注意:在 ISO 4287-1:1984 中使用的 RZ 符号表示“十点高度”,不同仪器测量结果可能存在差异,使用现有文件时需小心。

ISO 4287:1997 发布之时,引用了标准

  • ISO 11562:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 相位校正滤波器的计量特性
  • ISO 3274:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的标称特性
  • ISO 4288:1996 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 评定表面结构的规则和方法

ISO 4287:1997的历代版本如下:

  • 2009年 ISO 4287:1997/Amd 1:2009 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.表面结构的术语、定义和参数.修改件1:峰计数
  • 2005年 ISO 4287:1997/cor 2:2005 产品几何量技术规范(GPS).表面结构:轮廓法.术语、定义和表面结构参数.技术勘误2
  • 1998年 ISO 4287:1997/Cor 1:1998 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 技术勘误1 两种语言版
  • 1997年 ISO 4287:1997 产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 表面结构的术语、定义及参数 两种语言版

 

本国际标准规定了通过分析方法测定表面纹理(粗糙度、波纹度和初级轮廓)的术语、定义和参数。

采用 ISO 4287 的发行版本有:

  • DS/EN ISO 4287:1999 几何产品规范(GPS) 表面纹理:剖面法 术语、定义和表面纹理参数
  • EN ISO 4287:1998 产品几何量技术规范(GPS)表面结构:轮廓法 表面结构的术语,定义及参数.包含修改件A1-2009
  • KS B ISO 4287-2014(2019) 几何产品规格(Gps) - 表面纹理:轮廓方法 - 术语 定义和表面纹理参数
  • KS B ISO 4287:2008 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.术语、定义和表面特征参数
  • KS B ISO 4287:2014 产品几何技术规范(GPS).表面特征:轮廓法.术语、定义和表面特征参数
术语描述
轮廓滤波器
profile filter
将轮廓分离为长波分量和短波分量的滤波器。
As 轮廓滤波器
As profile filter
定义粗糙度分量与表面中存在的更短波分量之间边界的滤波器。
Ac 轮廓滤波器
Ac profile filter
定义粗糙度分量与波纹度分量之间边界的滤波器。
Af 轮廓滤波器
Af profile filter
定义波纹度分量与表面中存在的更长波分量之间边界的滤波器。
坐标系
coordinate system
定义表面纹理参数的坐标系,通常采用右手笛卡尔直角坐标系。
真实表面
real surface
限制物体并将其与周围介质分隔开的表面。
表面轮廓
surface profile
真实表面与指定平面相交产生的轮廓。
主轮廓
primary profile
未经滤波处理的原始表面轮廓,是评估主轮廓参数的基础。
粗糙度轮廓
roughness profile
通过应用 Ac 轮廓滤波器从主轮廓中抑制长波分量后得到的轮廓。
波纹度轮廓
waviness profile
通过依次应用 Af 和 Ac 轮廓滤波器从主轮廓中分离出的轮廓,抑制了长波和短波分量。
平均线
mean lines
用于定义轮廓参数参考的线,包括粗糙度轮廓平均线、波纹度轮廓平均线和主轮廓平均线。
基准长度
sampling length
沿 X 轴方向用于识别表征被测轮廓的不规则性的长度。
评定长度
evaluation length
沿 X 轴方向用于评定被测轮廓的长度,可包含一个或多个基准长度。
P 参数
P-parameter
在主轮廓上计算的参数。
R 参数
R-parameter
在粗糙度轮廓上计算的参数。
W 参数
W-parameter
在波纹度轮廓上计算的参数。
轮廓峰
profile peak
从材料指向周围介质的方向,连接轮廓与 X 轴两个相邻交点的轮廓部分。
轮廓谷
profile valley
从周围介质指向材料的方向,连接轮廓与 X 轴两个相邻交点的轮廓部分。
轮廓元素
profile element
一个轮廓峰及其相邻的轮廓谷。
纵坐标
ordinate
在任意位置 x 处被测轮廓的高度值 z(x)。
局部斜率
local slope
在位置 xi 处被测轮廓的斜率 dz/dx。
轮廓峰高
profile peak height
X 轴与轮廓峰最高点之间的距离。
轮廓谷深
profile valley depth
X 轴与轮廓谷最低点之间的距离。
轮廓元素高度
profile element height
轮廓元素的高度与深度之和。
轮廓元素宽度
profile element width
被轮廓元素截断的 X 轴线段的长度。
轮廓承载长度
material length of profile
在给定水平 c 处,由平行于 X 轴的直线切割轮廓元素所得到的各段长度之和。
最大轮廓峰高
maximum profile peak height
在基准长度内最大的轮廓峰高。
最大轮廓谷深
maximum profile valley depth
在基准长度内最大的轮廓谷深。
最大轮廓高度
maximum height of profile
在基准长度内最大轮廓峰高与最大轮廓谷深之和。
轮廓元素平均高度
mean height of profile elements
基准长度内轮廓元素高度的平均值。
轮廓总高度
total height of profile
在评定长度内最大轮廓峰高与最大轮廓谷深之和。
算术平均偏差
arithmetical mean deviation
基准长度内纵坐标绝对值 Z(X) 的算术平均值。
均方根偏差
root mean square deviation
基准长度内纵坐标值 Z(X) 的均方根值。
偏度
skewness
基准长度内纵坐标值 Z(X) 的立方平均值与 Pq、Rq 或 Wq 的立方之比,表征轮廓分布的不对称性。
峰度
kurtosis
基准长度内纵坐标值 Z(X) 的四次方平均值与 Pq、Rq 或 Wq 的四次方之比,表征轮廓分布的陡峭程度。
轮廓元素平均宽度
mean width of the profile elements
基准长度内轮廓元素宽度的平均值。
轮廓斜率均方根
root mean square slope
基准长度内纵坐标斜率 dZ/dX 的均方根值。
轮廓材料比率
material ratio of the profile
在给定水平 c 处的轮廓材料长度 Ml(c) 与评定长度之比。
轮廓材料比率曲线
material ratio curve of the profile
表示轮廓材料比率随水平变化的曲线,也称为 Abbott-Firestone 曲线。
轮廓截面高度差
profile section height difference
两个给定材料比率的截面水平之间的垂直距离。
相对材料比率
relative material ratio
在相对于参考 C0 的截面水平 R&处确定的材料比率。
轮廓高度分布曲线
profile height amplitude curve
表示评定长度内纵坐标 Z(x) 的样本概率密度函数的曲线。

ISO 4287:1997

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标准号
ISO 4287:1997
发布
1997年
ICS
01.040.17
17.040.30
总页数
36页
中文版
GB/T 3505-2009 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 4287:1997/Cor 1:1998
当前最新
ISO 4287:1997/Amd 1:2009
 
 
引用标准
ISO 11562:1996 ISO 3274:1996 ISO 4288:1996
 
 
本体
表面纹理 轮廓法

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接触式轮廓仪

符合 ISO 3274:1996 规定的标称特性
用于通过接触式触针测量表面轮廓的仪器,需符合相位校正滤波器的计量特性。

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