美利体育登录入口官网:GB/T 6619-1995
硅片弯曲度测试方法
Test methods for bow of silicon slices
GBT6619-1995, GB6619-1995
美利体育登录入口官网: GB/T 6619-1995 中，可能用到以下仪器
硅片厚度测量仪SIT-200
上海屹持光电技术有限公司
半导体晶圆硅片厚度测量仪
深圳市中图仪器股份有限公司
美国SI公司1900/1901温度指示器
北京飞斯科科技有限公司
美国SI公司1900-7/1901-7温度指示器
北京飞斯科科技有限公司
美国 SI 9302/9304温度指示器
北京飞斯科科技有限公司
美国SI公司1900-7/1901-7温度指示器
北京飞斯科科技有限公司
美国SI公司1900/1901温度指示器
北京飞斯科科技有限公司
美国SI公司9700温控仪
北京飞斯科科技有限公司
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- 标准号
- GB/T 6619-1995
- 别名
- GBT6619-1995
GB6619-1995 - 发布
- 1995年
- 总页数
- 5页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 替代标准
- GB/T 6619-2009
- 当前最新
- GB/T 6619-2009
本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片（以下简称硅片）弯曲度的接触式测量方法。 本标准适用于测量直径大于50mm，厚度为200～1000μm的圆形硅片的弯曲度。本标准也适用于测量其他半导体圆片弯曲度。
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