美利体育登录入口官网:GB/T 4058-1995
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
GBT4058-1995, GB4058-1995
2010-06
美利体育登录入口官网: GB/T 4058-1995 中，可能用到以下仪器美利体育官网首页网址
点击查看大图
- 标准号
- GB/T 4058-1995
- 别名
- GBT4058-1995
GB4058-1995 - 发布
- 1995年
- ICS
-
77.040.30
- 总页数
- 9页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 替代标准
- GB/T 4058-2009
- 当前最新
- GB/T 4058-2009
本标准规定了硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法。 本标准适用于硅抛光片表面区在模拟器件氧化工艺中诱生或增强的晶体缺陷的美利体育登录入口官网。