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本文件定义了一个测试序列,旨在快速发现与多年现场热循环暴露相关的CPV模块故障。本文件专门针对HCPV芯片附件的热疲劳失效开发,但在一定程度上也适用于所有热疲劳相关的失效机制。IEC 62108 CPV模块资格测试已经包括了一个加速热循环序列,但该测试的参数仅代表资格级别的暴露。本测试程序施加更大的应力,并为比较测试提供途径,以区分具有改进热循环耐久性和相关...
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