| 天平 精度 0.1% | 用于测定试件的干质量。 |
| 卡尺 读数精度 0.1 mm | 用于测量试件的尺寸。 |
| 塞尺 0.1 mm | 配合直尺用于检查表面平面度偏差。 |
| 直尺 长度至少 200 mm | 用于检查试件表面的平面度。 |
| 通风烘箱 能维持(105 ± 5)°C 温度 | 用于将试件烘干至恒重。 |
| 锯 | 用于切割试件,对于圆柱形试件也可使用取芯钻。 |
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