美利体育登录入口官网:AEC Q103-003
基于失效机理的应力测试认证 - 微机电系统(MEMS)麦克风器件
Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for MEMS Microphone Devices
美利体育登录入口官网: AEC Q103-003 发布历史
AEC Q103-003由汽车电子委员会 IX-AEC 发布于 2019-02-14，并于 0000-00-00 实施。
AEC Q103-003在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合,33.160.50 附件。
AEC Q103-003 基于失效机理的应力测试认证 - 微机电系统(MEMS)麦克风器件的最新版本是哪一版？
AEC Q103-003已经是当前最新版本。
- 标准号
- AEC-Q103-003 Rev-
- 发布时间
- 2019-02-14
- 标准名称
- 基于失效机制的应力测试 MEMS 麦克风器件的资格认证
- 发布机构
- 汽车电子委员会 (Automotive Electronics Council)
- 文件关系说明
- 本文件应与 AEC-Q100 结合使用。
- 专利声明（未识别专利）
- AEC 文件包含的材料已通过 AEC 技术委员会准备、审查和批准。AEC 文件的设计旨在通过消除制造商和购买者之间的误解、促进互换性和产品改进，并帮助购买者以最小延误选择并获得适当产品来服务于汽车电子行业。AEC 文件的采用不考虑其采用是否涉及专利或文章、材料或工艺。通过此类行动，AEC 不承担任何对任何专利所有者的责任，也不承担任何义务。
- 提出和归口信息
- 提出单位：汽车电子委员会 (Automotive Electronics Council) 组件技术委员会。
- 起草信息
- MEMS 麦克风小组委员会成员：Ahmed Abdelrazek (原 ams AG), Christoph Lercher (ams AG), Mark Sears (Bose, 退休), XinMiao Zhao (Cirrus Logic, 退休), Steven Sibrel (Harman International), Andy Mackie (Indium Corporation), Robert Kinyanjui (John Deere), Adeline Feybesse (NXP Semiconductors), Bobby Mays (NXP Semiconductors), Bassel Atala (STMicroelectronics, Q103-003 团队负责人), Luca Gubellini (STMicroelectronics), Davide Lombardo (STMicroelectronics), Mike Douglass (Texas Instruments), Larry Ting (Texas Instruments)。
- 版本历史
- Rev- 2019 年 2 月 14 日
- 解释单位
- 汽车电子委员会 (Automotive Electronics Council)
- 编制原因和目的
- 本规范的目的是确定 MEMS 麦克风器件能够通过规定的应力测试，从而预期在应用中提供一定水平的质量/可靠性。
- 技术内容特殊信息
- 本文件包含特定于用于车辆座舱环境的微机电系统 (MEMS) 麦克风技术的基于失效机制的应力测试集。MEMS 器件的电路部分易受与标准 IC 相同的机制影响，因此必须满足 AEC-Q100 中定义的要求。这些器件的 MEMS 部分（包括电路和封装相互作用）必须满足本文档中定义的要求。
- 与法规或其他标准的关系说明
- 本文件应与 AEC-Q100 结合使用，而不是替代。参考文件包括：AEC-Q100、MIL-STD-202、MIL-STD-883、JEDEC JESD-22、DIN 50018、EN 60068-2-60、ISO 16750-5。
- 风险分析或特殊提示
- 本测试集不应不加区分地使用。每个资格项目应检查：a. 任何潜在的新颖和独特的失效机制；b. 任何可能导致在应用中看不到的失效的测试/条件情况；c. 任何可能不利地降低加速度的极端使用条件和/或应用。
AEC Q103-003 发布之时，引用了标准
- DIN 50018 带腰杆的螺栓连接 - 第 6 部分：盖形螺母
- IEC 60068-2-2 环境试验 第2-2部分：试验 B: 干燥热*， 2025-04-01 更新
- ISO 16750-5 道路车辆 电气和电子美利体育官网首页网址的环境条件和测试 第 5 部分：化学负荷*， 2023-07-01 更新
- JEDEC JESD22-A101 稳态温度湿度偏差耐久性试验
- JEDEC JESD22-A119 低温储存*， 2026-07-19 更新
* 在 AEC Q103-003 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
本文件包含一套专门针对车辆座舱环境中使用的微机电系统(MEMS)麦克风技术的基于失效机理的应力测试。本文件应与AEC-Q100配合使用。MEMS器件的电路元件易受与标准集成电路相同的失效机制影响，因此必须满足AEC-Q100中定义的要求。这些器件的MEMS部分，包括电路与封装的交互作用，必须满足本文定义的要求。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| AEC Q103-003 认证资格 AEC Q103-003 Qualification | 成功完成并记录本文件及AEC-Q100文档中概述要求的结果，允许供应商声明该部件为"AEC-Q103-003认证资格"。 |
| AEC 认证 AEC Certification | 注意：AEC-Q103-003认证资格没有“认证”，也没有由AEC运行的认证委员会来认证部件。每个供应商根据其认证计划进行认证，考虑客户要求，并提交数据以验证符合AEC-Q103-003。 |
| HTC Humidity and Temperature Cycle | 湿度和温度循环测试，是MEMS麦克风特定的应力测试组（测试组M）之一。 |
| LTOL Low Temp Operating Life | 低温工作寿命测试，要求在-40°C Ta下进行1000小时的测试。 |
| LTS Low Temperature Storage | 低温存储测试，要求在-40°C Ta下进行1000小时的测试。 |
| MPT Maximum Pressure Test | 最大压力测试，要求施加160dB SPL正弦波10个周期。 |
| ELT Endurance Life Test | 耐久性寿命测试，要求在130dB连续信号下进行96小时测试。 |
| DHCF Damp Heat Cycle with Frost | 带霜的湿热循环测试，其测试接受标准可根据用户与供应商的协议按具体情况执行。 |
| SMT Salt Mist Test | 盐雾测试，其测试接受标准可根据用户与供应商的协议按具体情况执行。 |
| DST Dust Particle Contamination | 尘埃颗粒污染测试，其测试接受标准可根据用户与供应商的协议按具体情况执行。 |
点击查看大图
- 标准号
- AEC Q103-003
- 发布
- 2019年
- ICS
-
31.020
33.160.50
- 总页数
- 18页
- 发布单位
- 汽车电子委员会
- 引用标准
- DIN 50018 EN 60068-2-60 IEC 60068-2-2 ISO 16750-5 JEDEC JESD22-A101 JEDEC JESD22-A119
美利体育登录入口官网: AEC Q103-003 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 压力发生装置 未指定 | 用于施加160dB SPL正弦波或130dB连续信号的装置。 |
| 扬声器 未指定 | 用于施加130dB压力波到MEMS麦克风器件的美利体育官网首页网址，或用于电脉冲刺激膜片。 |