发布时间:2026-06-15
半导体芯片:半导体芯片是半导体器件的核心部分,包括晶圆、单个裸芯片等产品。例如,发光二极管芯片以磷砷化镓(GaAsP)为材料。在测试方法中,芯片指被剪切测试的半导体核心元件,包括无源元件,通常用于电子电路中,是测试的主要对象。
半导体芯片相关标准共10份,包含现行有效、已替代、已作废等。
在国际标准分类中,半导体芯片涉及到的分类有:光电子学、激光美利体育官网首页网址等。
半导体芯片涉及到的各类执行标准、规范如下(标准的数量,基本排除已被替代的标准,下同):
| 未分类 | 试验标准 | 指南标准 |
|---|---|---|
| 6 | 1 | 1 |
以下国家标准机构或者组织发布了半导体芯片相关的标准规范,统计数据如下:
| 德国标准化学会 | 行业标准-电子 | 国家市场监督管理总局 | 国际电工委员会 | (美国)固态技术协会,隶属EIA | 英国标准学会 |
|---|---|---|---|---|---|
| 2 | 2 | 1 | 1 | 1 | 1 |
试验中涉及到半导体芯片的执行标准有哪些?
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| GB/T 35010.3-2018 | 半导体芯片产品 第3部分:操作、包装和贮存指南 | 国家市场监督管理总局 |
以下标准未给出明确分类。共计6 个,更多>>
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| IEC 60749-19:2010 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:模剪切强度 | 国际电工委员会 |
| BS EN 60749-19:2003+A1:2010 | 半导体器件.机械和气候试验方法.模剪切强度 | 英国标准学会 |
| DIN EN 60749-19:2011 | 半导体器件.机械和气候试验方法.第19部分:晶片抗切强度(IEC 60749-19-2003 + A1-2010);德文版本EN 60749-19-2003 + A1-2010 | 德国标准化学会 |
| DIN EN 60749-19:2011-01 | 半导体器件 机械和气候测试方法 第19部分:芯片剪切强度 | 德国标准化学会 |
| SJ 50033/5-1994 | 半导体分立器件.GP和GT级GF 311型半导体黄色发光二极管详细规范 | 行业标准-电子 |
| SJ 50033.40-1994 | GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范 | 行业标准-电子 |
关于半导体芯片的指南有哪些?
| 标准号 | 标准名称 | 发布机构 |
|---|---|---|
| JEDEC JEP142-2023 | JEDEC JEP142 指南:用于混合/多芯片模块产品材料获取和接受 | (美国)固态技术协会,隶属EIA |
| 机构代码 | 机构名称 | “半导体芯片”标准数量 | 类型 |
|---|---|---|---|
| CN-GB | 国家市场监督管理总局 | 1 | 试验 |
| IX-IEC | 国际电工委员会 | 1 | 其它 |
| US-JEDEC | (美国)固态技术协会,隶属EIA | 1 | 指南 |
| GB-BSI | 英国标准学会 | 1 | 其它 |
| DE-DIN | 德国标准化学会 | 2 | 其它 |
| CN-SJ | 行业标准-电子 | 2 | 其它 |
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