晶体取向是描述晶体坐标系（如立方晶体的[100][010][001]）相对于样品坐标系（如RD、TD、ND）的排列方式，通常用欧拉角表示。半导体单晶表面与低指数晶学平面的角度偏差亦为取向。
| 标准号 & 类别 | 标准名称 | 发布 |
|---|---|---|
| ASTM E2627-13 Practice |
使用完全再结晶多晶材料中的电子背散射衍射 (EBSD) 测定平均粒径的标准实施规程 Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials
晶粒尺寸 电子背散射衍射 |
2013 美国材料与试验协会 |
| ASTM F26-87a(1999) 试验 |
Standard Test Methods for Determining the Orientation of a Semiconductive Single Crystal
X射线衍射 光学方法 |
1987-08-28 美国材料与试验协会 |
| BS ISO 24173:2009 指南标准 |
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
电子背散射衍射 |
2009-10-31 英国标准学会 |
| BS ISO 24173:2024 指南标准 |
Microbeam analysis. Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
电子背散射衍射 |
2024-02-29 英国标准学会 |
| DIN IEC/TS 61994-4-4:2011 术语标准 |
频率控制和选择用压电器件和介质器件.术语表.第4-4部分:材料.表面声波(SAW)美利体育官网首页网址用材料(IEC/TS 61994-4-4-2010) Piezoelectric and dielectric devices for frequency control and selection - Glossary - Part 4-4: Materials - Materials for surface acoustic wave (SAW) devices (IEC/TS 61994-4-4:2010)
|
2011-11 德国标准化学会 |
| DIN ISO 24173:2013-04 指南标准 |
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24713:2009)
电子背散射衍射 |
2013-04 德国标准化学会 |
| DIN ISO 24173:2025-04 |
微束分析 使用电子背散射衍射进行取向测量的指南（ISO 24173:2024） 文本为德语和英语 Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24173:2024); Text in German and English
电子背散射衍射 |
2025-04-01 德国标准化学会 |
| DIN ISO 24173:2025-11 |
微束分析 使用电子背散射衍射进行取向测量的指南（ISO 24173:2024） Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (ISO 24173:2024)
电子背散射衍射 |
2025-11-01 德国标准化学会 |
| GB/T 30703-2014 试验/指南标准 |
Microbeam analysis.Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
晶体 |
2014-06-09 国家市场监督管理总局 |
| ISO 24173:2009 指南标准 |
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
电子背散射衍射 |
2009-09 国际标准化组织 |
| ISO 24173:2024 规范 |
Microbeam analysis
|
2024-01 国际标准化组织 |
| YS/T 1652-2023 试验 |
Texture testing of zirconium and zirconium alloy— Electron backscatter diffraction method
电子背散射衍射 |
2023-12-20 行业标准-有色金属 |
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