加速因子是产品在使用条件下的寿命与高测试应力条件下寿命的比值，用于表征加速测试中故障分布的比率。
| 标准号 & 类别 | 标准名称 | 发布 |
|---|---|---|
| BS EN 62506:2013 试验 |
Methods for product accelerated testing
加速测试 失效模式 |
2013-09-30 英国标准学会 |
| DIN EN 60122-1 A1 E:2013-07 试验 |
Quality evaluation of vibrating quartz crystal units Part 1: General specifications
石英晶体单元 老化测试 |
2013-07 德国标准化学会 |
| DIN EN 62059-31-1:2009 试验 |
电能测量美利体育官网首页网址.可靠性.第31-1部分:加速可靠性测试.提高温度和湿度(IEC 62059-31-1-2008).德文版本EN 62059-31-1-2008 Electricity metering equipment - Dependability - Part 31-1: Accelerated reliability testing - Elevated temperature and humidity (IEC 62059-31-1:2008); German version EN 62059-31-1:2008
威布尔分布 |
2009-07 德国标准化学会 |
| DIN EN 62373:2007-01 试验 |
金属氧化物、半导体、场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试 Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
|
2007-01 德国标准化学会 |
| DIN EN 62506:2014 试验 |
产品加速测试方法(IEC 62506-2013).德文版本EN 62506-2013 Methods for product accelerated testing (IEC 62506:2013); German version EN 62506:2013
加速测试 累积损伤 |
2014-03 德国标准化学会 |
| DVS 2203-4 BBL03:2008-01 试验 |
德国钢管协会（DVS）2203-4聚乙烯焊缝时间蠕变试验及相关程序 German Steel Pipe Association (DVS) 2203-4 Polyethylene Weld Time Creep Test and Related Procedures
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2008-01 德国焊接协会 |
| DVS 2203-4 Beiblatt 3:2015-03 试验 |
聚乙烯（PE 80 和 PE 100）焊接连接的时间延展试验方法 Time extension test method for welded connections of polyethylene (PE 80 and PE 100)
活化能 |
2015-03 德国焊接协会 |
| DVS 2203-4 Beiblatt-3 E:2008-01 试验 |
Draft for testing of welding joints on plastic sheets and pipes - Creep tension test
活化能 |
2008-01-01 德国焊接协会 |
| GB/T 45718-2025 试验标准 |
Time-Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) testing between internal metal layers in semiconductor devices
失效时间 |
2025-05-30 国家市场监督管理总局 |
| GJB 2283A-2014 规范 |
General specification for chip solid-electrolytic fixed tantalum capacitors
|
2014-10-21 国家军用标准-总装备部 |
| ISO 15856:2010 指南标准 |
Space systems - Space environment - Simulation guidelines for radiation exposure of non-metallic materials
吸收剂量 |
2010-08 国际标准化组织 |
| JEDEC JEP 122H-2016 指南标准 |
Failure Mechanisms and Models of Semiconductor Devices
威布尔分布 |
2016-09-01 (美国)固态技术协会,隶属EIA |
| JEDEC JEP122H-2016 指南标准 |
Failure Mechanisms and Models of Semiconductor Devices (JEP122H)
失效机制 |
2016 (美国)固态技术协会,隶属EIA |
| JEDEC JESD74A-2007 QT |
Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Semiconductor Components
|
2007-02-01 (美国)固态技术协会,隶属EIA |
| JEDEC JESD94B-2015 指南标准 |
Application Specific Qualification Using Knowledge Based Test Methodology
使用条件 |
2015-10-01 (美国)固态技术协会,隶属EIA |
| SAE SSB-1.003A-2014 指南标准 |
Acceleration Factors Technical Report SSB-1.003 REV. A
半导体 |
2014-09-01 美国机动车工程师协会 |
| T/CPSS 1014-2021 试验标准 |
Technology specification of switching power supply for mean time between failure (MTBF) reliability
失效率 平均故障间隔时间 |
2021-08-27 中国团体标准 |
| T/GDCKCJH 016-2020 试验 |
Reliability acceleration test specification for industrial robot servo system
|
2020-04-28 中国团体标准 |
| T/GQDA 00005-2021 试验标准 |
Accelerated test and reliability index verification method of robot controller
加速试验 |
2021-11-10 中国团体标准 |
| VDE 0418-9-31-1-2009 试验 |
电力计量美利体育官网首页网址 可靠性 第31-1部分：加速可靠性测试 高温和高湿 (IEC 62059-31-1:2008) Electricity metering equipment - Dependability - Part 31-1: Accelerated reliability testing - Elevated temperature and humidity (IEC 62059-31-1:2008); German version EN 62059-31-1:2008
威布尔分布 |
2009-07-01 德国电气，电子和信息技术协会 |
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