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美利体育登录入口官网:位错密度

单位体积薄晶试样中所含位错线的总长度,常用个/cm?作为计量单位,是评估晶体质量的重要参数指标。


位错密度有关的标准

标准号 & 类别标准名称发布
GB/T 11093-2007
规范

液封直拉法砷化镓单晶及切割片

Liquid encapsulated czochralski-grown gallium arsenide single crystals and as-cut slices

2007-09-11
国家市场监督管理总局
GB/T 20228-2021
技术规范

砷化镓单晶

Gallium arsenide single crystal

2021-05-21
国家市场监督管理总局
GB/T 26072-2010
规范

太阳能电池用锗单晶

Germanium single crystal solar cell

2011-01-10
国家市场监督管理总局
GB/T 30854-2014

LED发光用氮化镓基外延片

Gallium nitride based epitaxial layer for LED lighting

2014-07-24
国家市场监督管理总局
GB/T 30858-2014
试验

蓝宝石单晶衬底抛光片

Polished mono-crystalline sapphire substrate product

2014-07-24
国家市场监督管理总局
GB/T 30861-2014
规范

太阳能电池用锗衬底片

Germanium substrate for solar cell

2014-07-24
国家市场监督管理总局
GB/T 32282-2015
术语

氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法

Measurement of Dislocation Density in Gallium Nitride Single Crystal by Cathodoluminescence Microscopy

2016-11-01
国家市场监督管理总局
GB/T 33763-2017
试验

蓝宝石单晶位错密度测量方法

Test method for dislocation density of sapphire single crystal

2017-05-31
国家市场监督管理总局
GB/T 43088-2023
试验/规范

微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

Method for determination of dislocation density in metallic thin crystal specimens by microbeam analysis and electron microscopy


透射电子显微镜 

2023-09-07
国家市场监督管理总局
GB/T 47080-2026
试验标准

金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法

Testing Methods for Dislocation Density in Single Crystal Diamond Polishing Wafers

2026-01-28
国家市场监督管理总局
GB/T 8760-2020
试验

砷化镓单晶位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide


腐蚀坑 

2020-09-29
国家市场监督管理总局
HJB 10342-2021
规范

锑化钢单晶抛光片规范

Specification for polished monocrystalline indium antimonide wafers


载流子浓度 

2021
NACE Paper 10181-2010
试验

关于塑料变形无缝碳钢管微观结构与氢渗透关系的研究

Study on the relationship between microstructure and hydrogen permeation of plastic deformation seamless carbon steel pipe


微观结构 氢渗透 

2010
美国防腐工程师协会
T/CASAS 013-2021
试验标准

碳化硅晶片位错密度美利体育登录入口官网方法 KOH腐蚀结合图像识别法

Measuring method for testing the density of dislocation in SiC crystal Combined KOH etching and image recognition methods

2021-11-01
中国团体标准
T/IAWBS 014-2021
试验标准

碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法

Test method for dislocation density of silicon carbide polished wafers


腐蚀坑 

2021-09-15
中国团体标准

 




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