| 术语 | 描述 |
|---|---|
| Kritischer Strom Critical Current (Ic) | 超导体在特定温度和磁场下,能够无电阻传导的最大电流值。 |
| Kritische Stromdichte Critical Current Density (Jc) | 超导体单位横截面积上能够无电阻传导的最大电流,通常计算为临界电流除以横截面积。 |
| n-Wert n-Value | 用于量化V-I曲线过渡到正常状态的参数,作为超导体质量的指标。较高的n值表示超导电性更好,V-I过渡更尖锐。 |
| Feldzerfallsprüfung Field Decay Test | 一种通过测量闭合超导回路中磁场的随时间衰减来确定连接电阻的方法。 |
| Vier-Punkt-Messung Four-Point Measurement | 一种测试方法,通过分离电流注入点和电压测量点来消除接触电阻的影响,从而精确测量样品的电阻。 |
| ?berlappsto? Lap Joint | 一种连接形式,其中两个超导体层部分重叠进行连接。 |
| Datenerfassungssystem (DAS) LabVIEW oder gleichwertig | 用于记录电压、电流、温度和磁场等测试数据并生成曲线的系统。 |
| Digitaler Spannungsmessger?t Hohe Impedanz | 用于测量两个电压探针之间的电势差(电压降),以计算样品的电阻。 |
| Hallsensor Grenzabweichung von 10^-2 Gauss | 用于在磁场衰减测试中测量闭合超导回路中随时间变化的磁场强度。 |
| Stromversorgung und Strommessger?t Ausgangsstrom-Ausleseger?t | 用于向样品施加电流并测量流过样品的电流值,是进行四点和磁场测试的基础美利体育官网首页网址。 |
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