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美利体育登录入口官网:GB/T 36477-2018
半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit.Measuring methods for flash memory

GBT36477-2018, GB36477-2018

正版授权中国标准出版社正式授权销售可通过授权方官方渠道验证

标准号
GB/T 36477-2018
别名
GBT36477-2018, GB36477-2018
发布
2018年
国际标准分类(ICS)
31.200 集成电路、微电子学   
总页数
19页
发布单位
国家市场监督管理总局
当前最新
GB/T 36477-2018
 
 
引用标准
GB/T 17574-1998
 
 
本体
半导体集成电路
适用范围
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
术语描述
快内存储器
Flash Memory
一种非易失存储器,具有电可擦除可编程的特性,主要特点是可以对大区块进行快速的读写。
最坏情况条件
Worst Case Condition
把电源电压、输入信号和负载在标称范围内的最不利条件同时加到被测快内存储器上构成的。

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