| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 测试方法 Test Method | 为了确认识别卡符合若干国家或国际标准而对其特性进行测试的方法。 |
| 可测试功能 Testable Function | 经受了某些可能的破坏性作用后,仍有以下功能:a) 卡上的任何磁条都给出了根据基本标准进行暴露前后信号幅度间的关系; b) 上的任何集成电路仍然给出了符合基本标准的复位应答响应; c) 与卡上的任何集成电路相关的任何触点仍然给出了符合基本标准的电阻和阻抗; d) 卡上的任何光存储器仍然給出了符合基本標準的光特性; e) 卡上的任何非接触集成電路仍然可按其用途進行操作。 |
| 翘曲 Warpage | 与平面的偏差。 |
| 磁通翻转每毫米 Flux Transitions Per Millimetre (ft/mm) | 应用于磁条磁道上的线性记录密度。 |
| 千分尺 精度为2.5 ?m | 用于测量卡片磁条区域的翘曲程度。 |
| 轮廓曲线仪 符合 ISO 1302 要求 | 用于测量磁条的高度和平坦度。 |
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