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美利体育登录入口官网:IEC 60444-8:2016
石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units


标准号
IEC 60444-8:2016
发布
2016年
国际标准分类(ICS)
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件   
总页数
34页
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60444-8:2016
 
 
引用标准
IEC 60444-5:1995
被代替标准
IEC 49/1126/CDV:2015 IEC 60444-8:2003
 
 
本体
测试夹具 负载谐振频率
适用范围
IEC 60444 的这一部分描述了适用于 IEC 61837(所有部分)中定义的外壳中无引线表面安装石英晶体单元的测试夹具。这些夹具允许使用 IEC 60444-5 中指定的测量技术来测量(串联)谐振频率、(串联)谐振电阻以及等效电路参数 L1、C1 和 C0,并确定负载谐振频率和负载谐振电阻根据 IEC TR 60444-4 和 IEC 60444-11。本文档描述了两种测试夹具: 1) 使用网络电路的夹具,其电气值如 IEC 60444-1 中所述,用于在高达 500 MHz 的传输模式下进行测量。该夹具包括添加物理负载电容器的可选方法,用于根据 IEC 60444-4 测量高达 30 MHz 的负载谐振参数。负载电容范围为10pF以上。下面解释测量系统和 CL 适配器板的校准。 2) 基于反射法的夹具,适用于高达1200 MHz的频率范围。预计不会有增加物理负载电容的措施。负载谐振参数可以使用IEC 60444-11的方法来测量。
术语描述
串联谐振频率
Series resonance frequency
石英晶体单元在串联谐振状态下的频率。
负载谐振电阻
Load resonance resistance
在负载谐振频率下测得的等效串联电阻。
π型网络
Pi-network
一种由三个电抗元件组成的电路拓扑结构,常用于本标准的传输测试夹具。
待测器件
Device under test (DUT)
需要被测量或测试的石英晶体单元。
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Vector network analyzer
一种能够测量网络散射参数(S参数)的测量仪器,具备误差校正功能。

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具备误差校正功能的自动网络美利体育登录入口官网
用于测量S参数、谐振频率和电阻,并具备内部数学处理误差校正功能的仪器。
精密电容表

用于CL适配板校准
用于校准传输测试系统中的CL适配板,测量精度要求达到±0.02 pF。

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