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ISO26262:2011-2012在半导体中的应用——第1部分：概念的应用
Application of ISO 26262:2011-2012 to semiconductors - Part 1: Application of concepts
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- 标准号
- ISO/PAS 19451-1:2016
- 发布
- 2016年
- ICS
-
43.040.10
- 总页数
- 132页
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO/PAS 19451-1:2016/Amd 1:2017
- 当前最新
- ISO/PAS 19451-1:2016/Amd 1:2017
- 引用标准
- EIA JEP 122G-2011 EIA JESD 89A-2006 IEC 61508-2:2010 IEC 61709:2011 IEC/TR 62380:2004 ISO 26262-10:2012 ISO 26262-1:2011 ISO 26262-2:2011 ISO 26262-3:2011 ISO 26262-4:2011 ISO 26262-5:2011 ISO 26262-6:2011 ISO 26262-7:2011 ISO 26262-8:2011 ISO 26262-9:2011 MIL-HDBK-217-1995-02
- 本体
- 半导体组件 虚拟化
本文件适用于评估在硬件组件、系统或项目中根据ISO 26262开发的半导体组件或部件使用的开发人员。
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