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美利体育登录入口官网:ETSI TS 102 694-1-2015
智能卡;单线协议(SWP)接口的测试规范;第1部分:终端功能(V10.2.0;版本 10)

Smart Cards; Test specification for the Single Wire Protocol (SWP) interface; Part 1: Terminal features (V10.2.0; Release 10)


ETSI TS 102 694-1-2015

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标准号
ETSI TS 102 694-1-2015
发布
2015年
总页数
94页
发布单位
欧洲电信标准协会
替代标准
ETSI TS 102 694-1-2019
当前最新
ETSI TS 102 694-1-2023
 
 
引用标准
ETSI TS 102 221 ETSI TS 102 600 ETSI TS 102 613 ETSI TS 102 622 ISO/IEC 13239 ISO/IEC 14443-2 ISO/IEC 14443-3 ISO/IEC 14443-4 ISO/IEC 18092 ISO/IEC 9646-7
 
 
本体
单线协议

本文件涵盖了终端在符合ETSI TS 102 613 [1]要求时所需的最小特性。本文件规定了以下内容的测试用例:接口CLF-UICC的物理层;CLF的电气接口;CLF-UICC的初始通信建立;数据链路层。与ETSI TS 102 613 [1]相关的UICC测试用例以及涵盖终端和UICC的主机控制器接口(HCI)测试用例均不在本文件范围内。

术语 
损坏帧 corrupted frame
用于涉及SHDLC LLC测试的命名法 nomenclature used for tests involving SHDLC LLC
非发生要求 non-occurrence RQ
代表性SWP帧交换过程 representative SWP frame exchange procedure
代表性USB帧交换过程 representative USB frame exchange procedure
用户 user
ACT ACT
CLF CLF
CLT CLT
CRC CRC
DUT DUT
ES ES
HCI HCI
LLC LLC
SHDLC SHDLC
SWIO SWIO
SWP SWP
TE TE
WS WS

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测试美利体育官网首页网址

无特定型号
提供UICC模拟器,用于在测试程序执行期间连接至DUT。用于模拟UICC的行为,包括电气和信令条件。
近场耦合美利体育官网首页网址

PCD,符合ISO/IEC 14443-4 [6]
用于需要触发DUT执行特定操作(如低功率模式下的终端激活)的测试用例。

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