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本文件涵盖了终端在符合ETSI TS 102 613 [1]要求时所需的最小特性。本文件规定了以下内容的测试用例:接口CLF-UICC的物理层;CLF的电气接口;CLF-UICC的初始通信建立;数据链路层。与ETSI TS 102 613 [1]相关的UICC测试用例以及涵盖终端和UICC的主机控制器接口(HCI)测试用例均不在本文件范围内。
| 术语 | |
|---|---|
| 损坏帧 | corrupted frame |
| 用于涉及SHDLC LLC测试的命名法 | nomenclature used for tests involving SHDLC LLC |
| 非发生要求 | non-occurrence RQ |
| 代表性SWP帧交换过程 | representative SWP frame exchange procedure |
| 代表性USB帧交换过程 | representative USB frame exchange procedure |
| 用户 | user |
| ACT | ACT |
| CLF | CLF |
| CLT | CLT |
| CRC | CRC |
| DUT | DUT |
| ES | ES |
| HCI | HCI |
| LLC | LLC |
| SHDLC | SHDLC |
| SWIO | SWIO |
| SWP | SWP |
| TE | TE |
| WS | WS |
| 测试美利体育官网首页网址 无特定型号 | 提供UICC模拟器,用于在测试程序执行期间连接至DUT。用于模拟UICC的行为,包括电气和信令条件。 |
| 近场耦合美利体育官网首页网址 PCD,符合ISO/IEC 14443-4 [6] | 用于需要触发DUT执行特定操作(如低功率模式下的终端激活)的测试用例。 |
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