| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 单个分散缺陷信号 individual indication | 最小缺陷当量符合锻件技术条件规定的记录限,当探头从缺陷最大信号反射位置向任一方向移动时,信号幅度出现正常的下降而无此起彼伏的现象,相邻缺陷之间的距离大于其中较大缺陷当量直径的缺陷信号。 |
| 密集缺陷信号 cluster indication | 在边长为50mm的立方体内,数量不少于5个、当量直径不小于锻件技术条件规定值的记录限的缺陷信号。 |
| 连续(条状)缺陷信号 extended indication | 缺陷回波高度至少在一个方向上不均匀下降,其延伸长度大于缺陷允许的最大当量直径的缺陷信号。 |
| 游动缺陷信号 traveling indication | 在技术条件规定的灵敏度下,当探头在被探部位移动时,信号前沿沿声程的移动距离相当于25mm或25mm以上金属深度的缺陷信号。 |
| 引起底波降低的缺陷 defect causing reduction of back echo | 由于缺陷引起底波降低大于或等于3dB的区域。 |
| 探头 纵波直探头,频率2MHz-5MHz,晶片尺寸20mm-30mm | 用于发射和接收超声波信号的部件。 |
| 超声波探伤仪 A型脉冲反射式,频率范围1MHz-5MHz | 用于美利体育登录入口官网锻件内部缺陷的仪器。 |
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