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本国际标准描述了一种用于实验室测试半导体光催化材料性能的紫外(UV)光源,并规定了测量其辐射强度的方法。
| 紫外辐射计 具有良好余弦响应的仪器,光谱灵敏度通常在310 nm至380 nm范围内恒定,或针对特定波长(如365 nm汞线)校准 | 用于测量测试样品处的紫外辐照度,需根据光源类型进行校准或修正。 |
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