| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 孔径尺寸 aperture size | 红外光谱仪用于进行光谱测量的矩形孔径的长度和宽度,或圆形孔径的直径。 |
| 整体氧化指数 bulk oxidation index | 在样品氧化指数曲线中心约1.5毫米范围内收集的氧化指数的平均值。 |
| 深度定位器 depth locator | 从关节面或感兴趣表面采集光谱并计算相应氧化指数的平均距离的测量值。 |
| 增量尺寸 increment size | 在测试薄膜上采集连续红外光谱的两个相邻位置之间的距离。 |
| 归一化峰面积 normalization peak area | 1330 cm??至1396 cm??之间归一化峰的总面积。 |
| 氧化 oxidation | 通过化学共价键将氧结合到另一种分子(如UHMWPE)中。 |
| 氧化指数 oxidation index | 1650 cm??至1850 cm??之间吸收峰面积(Aox)与1330 cm??至1396 cm??之间吸收峰面积(Anorm)的比值。 |
| 氧化指数曲线 oxidation index profile | 样品氧化指数随其关节面或感兴趣表面距离变化的图形表示。 |
| 氧化峰面积 oxidation peak area | 1650 cm??至1850 cm??之间吸收峰的总面积。 |
| 表面氧化指数 surface oxidation index | 从样品关节面或感兴趣表面到表面下3毫米深度范围内的氧化指数的平均值。 |
| 红外光谱仪 能够记录1200 cm??至2000 cm??范围内透射吸收光谱,分辨率4 cm??,孔径约0.2 mm × 0.2 mm,推荐使用0.2 mm增量尺寸;若使用傅里叶变换红外(FTIR)光谱仪,每个光谱至少采集32次扫描。 | 用于测量UHMWPE样品的吸收光谱,需使用无水分和二氧化碳的惰性气体(如氮气、氦气或氩气)进行吹扫以最小化光谱干扰。 |
| 切片机 能够产生0.15 mm至0.25 mm厚切片(薄膜)的美利体育官网首页网址。 | 用于制备垂直于关节面或感兴趣表面的样品切片。 |
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