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美利体育登录入口官网:BS EN 60444-11:2010
石英晶体元件参数的测量.使用自动网络分析技术和纠错法测定负载共振频率L和有效负载电容CLeff的标准方法

Measurement of quartz crystal unit parameters. Standard method for the determination of the load resonance frequency L and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction


标准号
BS EN 60444-11:2010
发布
2010年
国际标准分类(ICS)
31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件   
总页数
18页
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 60444-11:2010
 
 
引用标准
IEC 60122-1:2002 IEC 60444-5:1995
 
 
本体
品质因数 负载谐振频率
适用范围
本部分 IEC 60444 定义了测量标称值 C_L 下的负载谐振频率 f_L 以及确定具有品质因数 M > 4 的晶体在标称频率下的有效负载电容 C_Leff 的标准方法。M 根据 IEC 60122-1:2002 表 1 表示为以下方程:M = Q_r / (ω C_0 R_1)。该方法在高达 200 MHz 的频率范围内能给出良好结果。该方法允许计算负载谐振频率偏移 Δf_L、频率牵引范围 Δf_L1,L2 和牵引灵敏度 S,如 IEC 60122-1:2002 第 2.2.31 节所述。与 IEC 60444-4 的简单方法相反,该测量技术避免了使用物理负载电容器,并允许更高的精度、更好的可重复性和与应用的关联性。它将 IEC 60444-4 方法的最高频率限制从 30 MHz 扩展到约 200 MHz。该方法基于 IEC 60444-5:1995 的误差校正测量技术,因此允许在不更换测试夹具的情况下,在一个序列中同时测量 f_L 和 C_Leff 以及确定等效晶体参数。该方法搜索晶体电抗 X_C 与负载电容电抗具有相反值的频率 f_L。此外,该方法允许确定标称频率 f_nom 下的有效负载电容 C_Leff。
术语描述
负载谐振频率
load resonance frequency
晶体单元与串联或并联负载电容相关联的两个频率之一,在该频率下组合体的电气导纳(或阻抗)为电阻性。负载谐振频率 f_L 是这两个频率中较低的一个。
有效负载电容
effective load capacitance
由晶体在标称频率下的电抗定义的参数。

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未提及
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