美利体育登录入口官网:BS 1134:2010
表面纹理的评定.导则和一般介绍
Assessment of surface texture. Guidance and general information
美利体育登录入口官网: BS 1134:2010 发布历史
BS 1134:2010由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2010-12-31，并于 2010-12-31 实施。
BS 1134:2010 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法，在国际标准分类中归属于: 17.040.20 表面特征。
BS 1134:2010 表面纹理的评定.导则和一般介绍的最新版本是哪一版？
最新版本是 BS 1134:2010 。
- 标准号
- BS 1134:2010
- 发布时间
- 2010-11-30
- 标准名称
- 表面纹理评估 - 指南和一般信息
- 发布机构
- 英国标准协会 (BSI)
- 编制依据
- 基于最佳实践指南：使用轮廓仪测量表面纹理 (NPL, 2001)
- 文件关系说明
- 本标准的修订和合并了BS 1134-1:1988和BS 1134-2:1990
- 代替/废止文件关系
- 替代并废止了BS 1134-1:1988和BS 1134-2:1990
- 与国际文件关系
- 等效采用或基于BS EN ISO系列标准（如ISO 4287, ISO 1302等）
- 提出和归口信息
- 由技术委员会TDW/4（技术产品实现）编制
- 起草信息
- 由技术委员会TDW/4编制
- 版本历史
- 首次发布于1950年12月；第二版1961年4月；1972年8月分为第1部分和第2部分；1988年2月第1部分第二版；1990年7月第2部分第二版；2010年12月首次（合并第1部分和第2部分）
- 解释单位
- 英国标准协会 (BSI)
- 编制原因和目的
- 提供使用轮廓仪测量表面纹理的指南，描述测量方法和结果解释，以及使用比较试样的建议，以控制表面纹理并优化产品性能。
- 技术内容特殊信息
- 本标准为指南性质，不应作为规范引用；建议条款使用
- 分部分标准的各部分关系
- 本标准为合并版，将原第1部分和第2部分合并
- 与法规或其他标准的关系说明
- 与BS EN ISO 1302, 3274, 4287, 4288, 5436-1, 5436-2, 9000, 11562, 12085, 12179, 13565-1, 13565-2, 13565-3等相关
- 风险分析或特殊提示
- 使用比较方法评估表面纹理时，由于主观性可能导致结果准确性或一致性受损；测量结果可能受环境条件（温度、振动、灰尘）影响。
BS 1134:2010 发布之时，引用了标准
- BS EN ISO 11562 产品几何量规范（GPS） 表面结构：轮廓法 相位校正过滤器的计量特征
- BS EN ISO 12085 产品几何规格 (GPS) 表面纹理 剖面法 基序参数
- BS EN ISO 12179 产品几何量规范（GPS） 表面纹理：轮廓 接触（测针）仪器的校准*， 2026-05-31 更新
- BS EN ISO 1302 产品几何量技术规范.技术产品文件中表面结构的表示方式
- BS EN ISO 13565-1 几何产品规范（GPS） - 表面纹理：轮廓法 - 具有分层功能特性的表面 - 第1部分：过滤和一般测量条件
- BS EN ISO 13565-2 几何产品规范（GPS） - 表面纹理：轮廓法 - 具有分层功能特性的表面 - 第2部分：使用线性材料比率曲线表征高度
- BS EN ISO 13565-3 产品几何量规范(GPS).表面结构:轮廓法.具有分层功能特性的表面.利用材料的概率曲线描述高度特征
- BS EN ISO 3274 产品几何规格 (GPS) — 表面纹理：轮廓法 — 接触式（触针）仪器的标称特性 —
- BS EN ISO 4287 产品几何规范（GPS） 表面结构 轮廓法 术语、定义和表面结构参数
- BS EN ISO 4288 几何产品规范 (GPS) — 表面纹理 — 轮廓法：表面纹理评估的规则和程序
- BS EN ISO 5436-1 产品几何技术规范(GPS).表面结构:轮廓方法.测量标准.产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓方法校准.测量标准
- BS EN ISO 5436-2 几何产品技术规范 (GPS). 表面结构. 轮廓法. 测量标准. 软件测量标准*， 2012-10-31 更新
- BS EN ISO 9000 质量管理 基础与术语*， 2026-05-31 更新
* 在 BS 1134:2010 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
BS 1134:2010的历代版本如下：
- 2010年 BS 1134:2010 表面纹理的评定.导则和一般介绍
- 1961年 BS 1134:1961 表面纹理评估的中心线平均高度法
- 1950年 BS 1134:1950 表面纹理的评定 中心线平均高度法
该英国标准提供了使用触针仪器测量表面纹理的指南。该标准描述了进行测量的方法以及如何解释结果。该指南还给出了比较样本的使用建议。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 追踪轮廓 Traced profile | 具有理想几何形状（圆锥形，带球形尖端）和标称尺寸的触针尖端中心，在标称追踪力作用下，在相交平面内横跨表面所形成的轨迹。 |
| 参考轮廓 Reference profile | 当相交平面沿完美平滑和平坦的工作件移动时，探头所报告的轨迹。它源于不完美基准导轨引起的运动。 |
| 总轮廓 Total profile | 测量仪器报告的轮廓的数字形式，结合了追踪轮廓和参考轮廓。由于无法校正基准不完美引入的误差，总轮廓是有关追踪轮廓的唯一可用信息。 |
| 滤波器 Filters | 用于选择总轮廓中特定范围内结构（通常用于分析）或拒绝无关信息（如仪器噪声）的任何手段（通常是数字的，有时是机械的）。 |
| 主轮廓 Primary profile | |
| 粗糙度轮廓 Roughness profile | 通过抑制长波分量（使用截止波长为lc的长波高通滤波器）从主轮廓导出的轮廓。它是评估粗糙度轮廓参数的基础。 |
| 波纹度轮廓 Waviness profile | 通过应用带通滤波器选择长于粗糙度的表面结构而导出的轮廓。它是评估波纹度轮廓参数的基础。 |
| 总 traverse 长度 Total traverse length | 进行测量时跨越的总表面长度。通常大于评估长度，以便包含测量开始和结束时的短过行程，从而消除机械和电气瞬态及边缘对滤波器的影响。 |
| 波纹度轮廓的平均线 Mean line for the waviness profile | 用于参数计算的参考线，对应于被滤波器lf抑制的长波轮廓分量。 |
| 主轮廓的平均线 Mean line for the primary profile | 用于参数计算的参考线，是通过拟合名义形式的最小二乘线到主轮廓上确定的。 |
| 轮廓元素 Profile element | 从轮廓穿过平均线的一点到其以相同方向（例如从下到上）再次穿过平均线的点之间的轮廓段。 |
| 轮廓峰 Profile peak | 轮廓元素中位于平均线上方的部分，即从轮廓以正方向穿过平均线到下一次以负方向穿过平均线的部分。 |
| 轮廓谷 Profile valley | 轮廓元素中位于平均线下方的部分，即从轮廓以负方向穿过平均线到下一次以正方向穿过平均线的部分。 |
| 判别水平 Discrimination level | 用于防止自动系统计数微小、不可靠测量特征的阈值。只有高度超过指定值（如Rz的10%）且宽度超过指定值（如采样长度的1%）的特征才被计为有效的轮廓峰或谷。 |
| 纵坐标值 Ordinate value Z(x) | 在任何位置x处评估轮廓的高度。纵坐标位于x轴下方时高度为负，位于上方时为正。 |
| 轮廓峰高 Profile peak height Zp | x轴上的平均线与最高轮廓峰的最高点之间的距离。 |
| 轮廓谷深 Profile valley depth Zv | x轴上的平均线与最低轮廓谷的最低点之间的距离。 |
| 轮廓元素高度 Profile element height Zt | 最低轮廓谷的最低点与最高轮廓峰的最高点之间的距离。 |
| 局部斜率 Local slope dZ/dX | 在位置xi处评估轮廓的斜率。 |
| 最大轮廓峰高 Maximum profile peak height Pp, Rp, Wp | 采样长度内最大的轮廓峰高（Rp），即从平均线到轮廓最高点的距离。 |
| 最大轮廓谷深 Maximum profile valley depth Pv, Rv, Wv | 采样长度内最大的轮廓谷深（Rv），即从平均线到轮廓最低点的绝对距离。 |
| 最大轮廓高度 Maximum height of profile Pz, Rz, Wz | 采样长度内最大轮廓峰高（Rp）与最大轮廓谷深（Rv）之和。 |
| 评估轮廓的算术平均偏差 Arithmetical mean deviation of the assessed profile Pa, Ra, Wa | 采样长度内纵坐标绝对值Zi的算术平均值。 |
| 评估轮廓的均方根偏差 Root mean square deviation from the assessed profile Pq, Rq, Wq | 采样长度内纵坐标Zi的均方根值，或相对于平均线的偏差的均方根值。 |
| 评估轮廓的偏度 Skewness of the assessed profile Psk, Rsk, Wsk | 纵坐标Zi的平均立方值与Pq、Rq或Wq的立方之比。它是关于平均线轮廓对称性的度量。 |
| 评估轮廓的峰度 Kurtosis of the assessed profile Pku, Rku, Wku | 纵坐标Zi的平均四次方值与Pq、Rq或Wq的四次方之比。它是轮廓尖锐程度的度量。 |
| 轮廓元素的平均宽度 Mean width of the profile elements PSm, RSm, WSm | 采样长度内轮廓元素宽度（Xs）的平均值。 |
| 评估轮廓的均方根斜率 Root mean square slope of the assessed profile PΔq, RΔq, WΔq | 采样长度内纵坐标斜率dZ/dX的均方根值。 |
| 轮廓的材料比 Material ratio of the profile Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) | 承载长度与评估长度之比，以百分比表示。 |
| 轮廓的材料比曲线 Material ratio curve of the profile | 表示轮廓材料比随水平变化的曲线。 |
| 轮廓截面高度差 Profile section height difference Pd c, Rd c, Wd c | 给定材料比的两个截面水平之间的垂直距离。 |
| 相对材料比 Relative material ratio Pmr, Rmr, Wmr | 在轮廓截面水平Rd c处确定的材料比，并与参考C0相关。 |
| 轮廓高度振幅曲线 Profile height amplitude curve | 评估长度内纵坐标Z(x)的样本概率密度函数。 |
| 深度测量标准 Depth measurement measures | 用于校准垂直轮廓的测量标准，具有已知深度的宽槽。 |
| 触针状态测量标准 Tip condition measurement measures | 用于校准触针尖端状态的测量标准，具有各种深度和宽度的窄槽。 |
| 间距测量标准 Spacing measurement measures | 主要用于校准垂直轮廓分量，也可用于校准水平轮廓分量的测量标准。 |
| 粗糙度测量标准 Roughness measurement measures | 用于测量仪器整体校准的测量标准。 |
| 轮廓坐标测量标准 Profile co-ordinate measurement measures | 用于校准测量仪器轮廓坐标系统的测量标准。 |
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- 标准号
- BS 1134:2010
- 发布
- 2010年
- ICS
-
17.040.20
- 总页数
- 60页
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS 1134:2010
- 引用标准
- BS EN ISO 11562 BS EN ISO 12085 BS EN ISO 12179 BS EN ISO 1302 BS EN ISO 13565-1 BS EN ISO 13565-2 BS EN ISO 13565-3 BS EN ISO 3274 BS EN ISO 4287 BS EN ISO 4288 BS EN ISO 5436-1 BS EN ISO 5436-2 BS EN ISO 9000
- 本体
- 表面纹理 轮廓仪
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| 轮廓仪 接触式（触针式） | 由触针、换能器、驱动装置、电子放大器和记录美利体育官网首页网址组成，用于将触针的垂直运动转换为电信号以测量表面纹理。 |
| 便携式轮廓仪 手持式 | 可直接安装在被测表面上的测量仪器，适用于车间环境，但可能受温度梯度、灰尘和振动影响。 |
