| X射线荧光光谱仪 | 用于照射X射线并测量产生的荧光X射线强度的美利体育官网首页网址 |
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。?X-?射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。?X?射线是伦琴于?1895?年发现的一种电磁辐射,其波长为?0.01?~?10nm。在真空管内用电加热灯丝(钨丝阴极)产生大量热电子,热电子被高压(万伏)加速...
X射线荧光分析法(X-ray fluorescence analysis),是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的依据...
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的...
X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达3-10~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用...
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