| 光纤互连器件和无源组件 Fibre optic interconnecting devices and passive components | 需要进行基本测试和测量程序的光纤器件和无源组件,用于评估其在环境应力下的性能。 |
| 测试器件 Device Under Test (DUT) | 接受测试以评估其对高温、湿度和低温条件耐受性的具体光纤器件。 |
| 复合温湿度循环测试 Composite temperature/humidity cyclic test | 一种测试方法,通过结合温度变化、湿度变化和低温暴露来评估器件的耐久性。 |
| 光学源和探测器 符合 IEC 61300-3-4 规范 | 用于测量测试器件在测试过程中衰减变化的美利体育官网首页网址。 |
| 冷室 无特定型号,需能维持温度 -10°C ± 2°C | 用于对测试器件进行低温暴露的 chamber,需确保工作空间温度均匀。 |
| 湿度室 无特定型号,需满足温度变化范围 25°C ± 2°C 至 65°C ± 2°C,相对湿度 93% RH ± 3% RH | 用于对测试器件进行温湿度暴露的 chamber,需能精确控制温度和湿度条件。 |
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