美利体育登录入口官网:SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
SJT11394-2009, SJ11394-2009
- 标准号
- SJ/T 11394-2009
- 别名
- SJT11394-2009, SJ11394-2009
- 发布
- 2009年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.260 光电子学、激光美利体育官网首页网址
- 总页数
- 31页
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 当前最新
- SJ/T 11394-2009
- 引用标准
- ANSI/ESD STM 5.1-2001 ANSI/ESD STM 5.2-1999 CIE 127-1997 GB/T 11499-2001 GB/T 15651-1995 GB/T 3977-2001 GB/T 4365-2003 GB/T 5698-2001 GB/T 5702-2003 GB/T 7921-1997 GB/T 7922-2003
- 被代替标准
- SJ 2355.7-1983 SJ 2355.6-1983 SJ 2355.5-1983 SJ 2355.4-1983 SJ 2355.3-1983 SJ 2355.2-1983 SJ 2355.1-1983
- 适用范围
- 本标准规定了半导体发光二极管（以下简称器件）的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。 本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管。紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 辐射能 radiant energy | 以辐射形式发射、传播或接收的能量，单位为焦耳（J）。 |
| 平均 LED 强度 average LED intensity | 在规定的 LED 和光探测器构成的立体角内，各个波长的辐照功率分布情况下的平均发光强度。 |
| 光谱功率分布 spectral power distribution | 在单位波长间隔内，各个波长的辐照功率分布情况。 |
| 热阻 thermal resistance | 器件参考点温度与通量耗散的功率之比，可用下式表示：(T1-T2)/P。 |
| 结到管壳热阻 thermal resistance from junction to case | 器件结到管壳之间形成的热阻，表示一个给定器件在良好热性能下的热阻值。 |
| 静电放电敏感性术语 electrostatic discharge sensitivity | 描述器件对静电放电脉冲敏感程度的术语，用于分类和测试。 |
美利体育登录入口官网: SJ/T 11394-2009 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 单色仪 | 用于测量光谱功率分布、色品坐标等颜色特性的仪器。 |
| 光度测量系统 | 用于测量 LED 平均强度、光通量等光特性的系统，包含光探测器、积分球等组件。 |
| 静电放电测试器 | 用于进行人体模式和机器模式静电放电敏感性测试的美利体育官网首页网址，包含脉冲发生器和测量系统。 |
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