JIS G 1322-3:2010由日本工业标准调查会 JP-JISC 发布于 2010-01-20。
JIS G 1322-3:2010 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法,在国际标准分类中归属于: 77.100 铁合金。
JIS G 1322-3:2010 金属硅的化学分析方法.第3部分:磷含量的测定方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 JIS G 1322-3:2010 。
* 在 JIS G 1322-3:2010 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
JIS G 1322-3:2010 金属硅的化学分析方法.第3部分:磷含量的测定方法 由 JIS G 1322:1977 金属硅化学分析方法 变更而来。
JIS G 1322-3:2010 金属硅的化学分析方法.第3部分:磷含量的测定方法 由 JIS G 1322 AMD 1:2006 金属硅的化学分析方法(修改件1) 变更而来。
本标准规定了金属硅中硅含量的测定方法。

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| 分光光度计 配备10mm吸收池 | 用于测量825nm波长附近的钼磷酸蓝吸光度 |
| ICP原子发射光谱仪 | 用于测量磷元素在177.49nm、178.29nm或213.62nm波长处的发射强度 |
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