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美利体育登录入口官网:GB/T 15651.3-2003
半导体分立器件和集成电路第5-3部分;光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods

GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003

正版授权中国标准出版社正式授权销售可通过授权方官方渠道验证

标准号
GB/T 15651.3-2003
别名
GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003
发布
2003年
国际标准分类(ICS)
31.260 光电子学、激光美利体育官网首页网址   
总页数
27页
采用标准
IEC 60747-5-3:1997 IDT
发布单位
国家市场监督管理总局
当前最新
GB/T 15651.3-2003
 
 
引用标准
IEC 60270
 
 
本体
光电子器件
适用范围
本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。
术语描述
发光强度
Luminous intensity
半导体发光二极管在特定方向上的光输出功率密度。
辐射强度
Radiant intensity
红外发射二极管在特定波长和方向上的辐射功率。

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单色仪

MS-200
用于分析光谱辐射带宽和峰值波长。
光探测器

PD-45
用于测量半导体器件的光电响应。

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