美利体育登录入口官网:ISO/IEC 15457-3:2008
识别卡.薄柔性卡.第3部分:试验方法
Identification cards - Thin flexible cards - Part 3: Test methods
- 标准号
- ISO/IEC 15457-3:2008
- 发布
- 2008年
- 国际标准分类(ICS)
- 35.240.15 识别卡和有关装置
- 总页数
- 46页
- 中文版
- GB/T 28177.3-2012 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO/IEC 15457-3:2008
- 引用标准
- ISO 1831 ISO 186 ISO 187 ISO 2144 ISO 2409 ISO 2471 ISO 2758 ISO 291 ISO 3274 ISO 4094 ISO 4287-1 ISO 534 ISO 5626 ISO 5627 ISO 5629 ISO 5636-3 ISO 6383-2 ISO 8295 ISO 8570 ISO/IEC 10373-1 ISO/IEC 10373-2 ISO/IEC 15457-1 ISO/IEC 7811-2 ISO/IEC 7811-6
- 本体
- 磁条
- 适用范围
- 薄型灵活卡 (TFC) 是本国际标准的主题，用于自动控制对商品或服务的访问，例如公共交通、高速公路收费系统、停车场、凭证、储值等。 对于这些应用程序，数据可以使用各种记录技术（例如磁条、光学字符识别 (OCR)、条形码等）由机器写入和/或读取。 ISO/IEC 15457 的这一部分规定了进行测量所需的测试方法和程序。 薄型柔性卡的磁条和编码特性。 许多可用于检查基材物理性能的标准方法旨在应用于从连续材料或大片材上切割的样品。 然而，除非另有明确说明，本文给出的所有测试方法均适用于成品卡。 所描述的测试方法将在单独的样品上进行。 除非明确说明，否则任何一张卡都不应通过多个测试程序。 ISO/IEC 15457 的本部分未涵盖验收标准。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 基材 substrate | 构成薄柔性卡的材料，不包含任何记录介质。 |
| 复合材料 composite | 由至少两层不同材料制成的材料，其中一层为纸。 |
| 参考信号幅度 reference signal amplitude | 初级标准读回信号幅度；参考卡平均信号幅度的最大值，经校正至初级标准。 |
| 参考写入电流 reference write current | 初级标准写入电流，通过测量次级参考卡获得。 |
| 参考磁通 reference flux | 当写入电流为 IR 时，测试写入头中的磁通。 |
| 测试件 test piece | 样品或测试样品上用于进行测试的部分。 |
| 测量不确定度 uncertainty of measurement | 表征测量值真值所在范围范围的估计值。 |
| （光学）透射因数 〈optical〉transmittance factor | 试样透射的（光学）通量与移除试样后测量装置采样孔径的通量之比。 |
| 不透明度 opacity | （光学）透射密度；透射因数倒数的以 10 为底的对数。 |
美利体育登录入口官网: ISO/IEC 15457-3:2008 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 测厚仪 死重千分尺 | 用于测定纸或复合薄柔性卡的厚度，压力为 100 kPa。 |
| 拉力试验机 配备测力计，能施加至少 500 N 的力，速度为 100 mm/min | 用于测量分离力，即断开卡片穿孔线桥所需的力。 |
| 摩擦系数测试仪 摩擦滑车装置 | 用于测定动态摩擦系数和去堆叠力。 |
| 书写测试装置 绘图笔及绘图系统（如 carriage 类型） | 用于测定涂布和笔写因子，评估与水基墨水的兼容性。 |
| 冷裂温度测试仪 符合 ISO 8570 标准，冲击重量 1.96 N ± 0.01 N | 用于测定塑料薄柔性卡的冷裂温度（脆性）。 |
| 划痕测试装置 圆柱半径 14 mm，最终直径 19 mm ± 0.05 mm，表面为不锈钢，最终硬度为 50 肖氏 A 硅橡胶 | 用于测试芯片/天线连接抵抗划痕的能力。 |
| 卷绕测试装置 包含两个非铁金属棒（宽 9 mm ± 1 mm，高 15 mm ± 0.1 mm，长至少 150 mm）及测量美利体育官网首页网址 | 用于测试卷绕紧密度，测量卷筒底部与水平面之间的距离。 |
| 反射率测量仪 使用 B900 光谱带 | 用于测定反射率因子。 |
| 埃尔门多夫撕裂度测试仪 使用 16 的摆锤因子进行校准 | 用于测定撕裂阻力。 |
| 弯曲测试装置 圆柱半径 40 mm，表面为聚甲醛（POM）材料 | 用于测试芯片/天线连接在弯曲条件下的可靠性。 |
| 振动样品磁强计 VSM | 用于获取磁滞回线 M = f (H) 的测量仪器。 |
| 接触式读卡器 用于测量读取距离 | 用于测试芯片/天线连接的可靠性。 |
| 接触式轮廓仪 符合 ISO 3274 标准，配备 10 mm ± 1 mm 直径的平面探头 | 用于测量磁条的突出量、轮廓偏差和粗糙度。 |
| 磁滞仪 | 用于获取磁滞回线 M = f (H) 的测量仪器。 |
| 莫伦破裂强度测试仪 符合 ISO 2758 标准，配备薄膜和压力表 | 用于测定分层阻力（剥离应力）。 |
| 贝克平滑度测试仪 电子贝克型平滑度测试仪 | 用于测定平滑度。 |
| 透气度测试仪 本德森法（Bendtsen method） | 用于测定空气渗透性。 |
