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美利体育登录入口官网:DIN EN ISO 3882:2003
金属和其他无机物覆层.厚度测量方法述评

Metallic and other inorganic coatings - Review of methods of measurement of thickness (ISO 3882:2003); German version EN ISO 3882:2003


标准号
DIN EN ISO 3882:2003
发布
2003年
国际标准分类(ICS)
17.040.20 表面特征   
总页数
17页
发布单位
德国标准化学会
替代标准
DIN EN ISO 3882:2003-10
当前最新
DIN EN ISO 3882:2024-04
 
 
引用标准
ISO 10111 ISO 1463 ISO 2064 ISO 2128 ISO 2177 ISO 2178 ISO 2360 ISO 2361 ISO 3497 ISO 3543 ISO 3868 ISO 4518 ISO 9220
被代替标准
DIN 50982-3:1987 DIN EN ISO 3882:1995 DIN EN ISO 3882:2000
 
 
本体
涂层厚度测量
适用范围
本国际标准概述了用于测量金属和其他无机涂层在金属和非金属基材上厚度的方法。它仅限于国际标准化组织(ISO)标准中已涵盖或计划涵盖的方法;排除了专为特殊应用设计的方法。
涂层厚度测量
Measurement of coating thickness
用于确定金属和其他无机涂层厚度的各种技术方法的总称,包括破坏性和非破坏性方法。
无损测量
Non-destructive measurement
一种测量方法,在测量过程中不损坏或改变被测涂层的完整性,如光切法、磁法、涡流法等。
破坏性测量
Destructive measurement
一种测量方法,需要去除部分涂层或制备样品截面才能进行测量,如显微镜法、库仑法、重量法等。

美利体育登录入口官网: DIN EN ISO 3882:2003 中提到的仪器美利体育官网首页网址

X射线光谱测厚仪

适用于ISO 3497标准
利用X射线发射和吸收光谱法测量金属涂层厚度的仪器,通过测量从涂层或基材发射和衰减的二次辐射强度来确定厚度。
β射线背散射测厚仪

适用于ISO 3543标准
使用发射β粒子的放射性同位素和探测器,通过测量从样品背散射的β粒子强度来确定涂层厚度的仪器。
光切显微镜

无特定型号,用于测量透明和半透明涂层
用于测量透明和半透明涂层(特别是铝上的阳极氧化层)厚度的仪器,通过投影45度角的光束并测量反射光带之间的距离来确定厚度。
光学显微镜

适用于ISO 1463标准
用于通过观察涂层横截面的放大图像来测量涂层厚度的仪器。
多光束干涉仪

适用于ISO 3868标准
用于测量非常薄的、不透明金属涂层厚度的仪器,通过测量涂层与基材之间台阶的高度来确定厚度。
库仑测厚仪

适用于ISO 2177标准
通过测量阳极溶解过程中消耗的电量来确定金属涂层厚度的仪器。
扫描电子显微镜

适用于ISO 9220标准
用于通过观察涂层横截面的放大图像来测量涂层厚度的仪器,通常结合微摄影或视频波形信号进行分析。
涡流测厚仪

适用于ISO 2360标准
用于测量非导电涂层在非磁性金属上厚度的仪器,基于涂层与基材之间电导率的差异进行测量。
磁测厚仪

适用于ISO 2178和ISO 2361标准
用于测量非磁性涂层在磁性基材上或电解镍层厚度的仪器,通过测量磁吸力或磁通电阻来确定厚度。
轮廓仪(触针式)

适用于ISO 4518标准
通过触针沿涂层与基材之间的台阶移动,通过电子测量和记录触针运动来确定台阶高度(即涂层厚度)的仪器。

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