| X射线光谱测厚仪 适用于ISO 3497标准 | 利用X射线发射和吸收光谱法测量金属涂层厚度的仪器,通过测量从涂层或基材发射和衰减的二次辐射强度来确定厚度。 |
| β射线背散射测厚仪 适用于ISO 3543标准 | 使用发射β粒子的放射性同位素和探测器,通过测量从样品背散射的β粒子强度来确定涂层厚度的仪器。 |
| 光切显微镜 无特定型号,用于测量透明和半透明涂层 | 用于测量透明和半透明涂层(特别是铝上的阳极氧化层)厚度的仪器,通过投影45度角的光束并测量反射光带之间的距离来确定厚度。 |
| 光学显微镜 适用于ISO 1463标准 | 用于通过观察涂层横截面的放大图像来测量涂层厚度的仪器。 |
| 多光束干涉仪 适用于ISO 3868标准 | 用于测量非常薄的、不透明金属涂层厚度的仪器,通过测量涂层与基材之间台阶的高度来确定厚度。 |
| 库仑测厚仪 适用于ISO 2177标准 | 通过测量阳极溶解过程中消耗的电量来确定金属涂层厚度的仪器。 |
| 扫描电子显微镜 适用于ISO 9220标准 | 用于通过观察涂层横截面的放大图像来测量涂层厚度的仪器,通常结合微摄影或视频波形信号进行分析。 |
| 涡流测厚仪 适用于ISO 2360标准 | 用于测量非导电涂层在非磁性金属上厚度的仪器,基于涂层与基材之间电导率的差异进行测量。 |
| 磁测厚仪 适用于ISO 2178和ISO 2361标准 | 用于测量非磁性涂层在磁性基材上或电解镍层厚度的仪器,通过测量磁吸力或磁通电阻来确定厚度。 |
| 轮廓仪(触针式) 适用于ISO 4518标准 | 通过触针沿涂层与基材之间的台阶移动,通过电子测量和记录触针运动来确定台阶高度(即涂层厚度)的仪器。 |
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