| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 坐标测量机 Coordinate Measuring Machine (CMM) | 适用于测量空间坐标的测量系统,配备有用于移动测量头系统以确定工件表面点空间坐标的手段。 |
| 坐标测量 Coordinate Measurement | 使用坐标测量机进行的测量空间坐标的操作。 |
| 测量体积 Measuring Volume | 坐标测量机的测量范围,表示为在该机器上可测量的所有空间坐标的同时极限值。 |
| 工件坐标系 Workpiece Coordinate System | 相对于工件定义的坐标系。 |
| 美利体育官网首页网址坐标系 Machine Coordinate System | 相对于坐标测量机的物理或计算轴定义的坐标系。 |
| 测量头系统 Measuring Head System | 由测量头以及(如有)测量头延长杆、测量头更换系统、测头更换系统、测头延长杆和测头组成的系统。 |
| 触测 Probing | 确定坐标值的过程。 |
| 单点触测 Single Point Probing | 一种特殊的触测模式,在离开中间点后立即采集显示的测量点。 |
| 扫描 Scanning | 一种特殊的触测模式,用于连续采集测量点,以表征被测表面上的线条。 |
| 编程点 Programmed Point | 任何由坐标表示的点,用于控制测量头系统指定点的运动。 |
| 中间点 Intermediate Point | 一种特殊的编程点,不进行触测操作。 |
| 显示的测量点 Displayed Measuring Point | 测量头系统的一个固定点,其坐标在触测发生的瞬间直接显示。 |
| 修正测量点 Corrected Measuring Point | 基于显示的测量点对工件表面上某点的估计值。 |
| 名义接触点 Nominal Contact Point | 完整名义几何要素上计划的接触点。 |
| 实际接触点 Actual Contact Point | 测头元件与实际几何要素之间的接触点。 |
| 测头元件 - 修正矢量 Stylus Element - Correction Vector | 将显示的测量点转换为修正测量点的矢量。 |
| 验收测试 Acceptance Test | 由制造商和用户商定的操作范围,用于确认坐标测量机的性能符合制造商的规范。 |
| 再验证测试 Reverification Test | 用于确认坐标测量机的性能符合用户规范的测试,执行方法与验收测试相同。 |
| 中间测试 Intermediate Test | 由用户确定的测试,旨在在再验证测试之间保持对坐标测量机测量结果的信任。 |
| 高斯径向距离 Gaussian Radial Distance | 高斯拟合球体(最小二乘法)的中心与同一长度量具实体上的修正测量点之间的距离。 |
| 公差 Span | 相同名义尺寸的最大值与最小值之间的差。 |
| 回程误差 Hysteresis | 测量仪器对给定测量值的响应取决于先前测量值序列的特性。 |
| 主轴 Spindle | 坐标测量机的组件,用于承载测量头系统。 |
| 测量头 Measuring Head | 在触测时产生信号的装置。 |
| 接触式测量头系统 Contact Measuring Head System | 需要与被测表面进行材料接触才能工作的测量头系统。 |
| 非接触式测量头系统 Non-contact Measuring Head System | 不需要与被测表面进行材料接触即可工作的测量头系统。 |
| 光学测量头系统 Optical Measuring Head System | 一种非接触式测量头系统,通过光学系统触测产生修正测量点。 |
| 多测量头系统 Multi-head Measuring Head System | 具有一个以上测量头的测量头系统。 |
| 旋转 - 摆动测量头系统 Rotary-Tilting Measuring Head System | 可以通过手动或电机驱动的空间角度定位装置在不同角度位置定向的测量头系统。 |
| 测头系统校准 Calibration of Measuring Head System | 为后续测量而进行的测量头系统参数的设置。 |
| 多测头 Multi-stylus | 包含一个以上测头系统(带一个或多个测头)或一个测头系统(带一个或多个测头)的测量头系统,或配备多测量头系统或可旋转/摆动测头的测量头系统。 |
| 测头 Stylus | 由测头元件和杆组成的机械装置。 |
| 测头元件 Stylus Element | 与工件建立物理接触的元件。 |
| 测头系统组件 Components of Measuring Head System | 允许与工件建立机械接触的各种机械组件,如测头延长杆和测头。 |
| 测头系统 Measuring Head System | 测头系统组件的任意组合,至少包含一个测头。 |
| 测头长度 Stylus Length | (球形测头元件)测头元件中心到杆肩部的距离。 |
| 测头元件偏移 Stylus Element Offset | 测头元件中心相对于美利体育官网首页网址坐标系中定义的参考点的相对坐标。 |
| 回转台 Rotary Table | 承载工件的装置,使工件相对于坐标测量机的线性运动轴旋转。 |
| 回转台校准 Calibration of Rotary Table | 制造商规定的将回转台轴(物理或软件)与坐标测量机线性运动轴对齐的方法。 |
| 单点触测速度 Single Point Probing Speed | 测量头系统相对于工件在单点触测时的速度。 |
| 扫描速度 Scanning Speed | 测量头系统相对于工件在扫描时的速度。 |
| 空行程 Air Travel | 从新的编程点到中间点的距离,其中中间点用于测头元件从直接前一个触测点的回退运动。 |
| 修正扫描点 Corrected Scanning Point | 在扫描过程中获得的修正测量点。 |
| 扫描名义线 Scanning Nominal Line | 名义接触点所在的线。 |
| 修正扫描线 Corrected Scanning Line | 由扫描过程中获得的修正测量点描述的线。 |
| 扫描名义面 Scanning Nominal Plane | 名义接触点所在的平面。 |
| 预定扫描路径 Prescribed Scanning Path | 测量头系统在两个定义端点之间沿扫描名义线移动的一种扫描方法。 |
| 非预定扫描路径 Non-prescribed Scanning Path | 测量头系统在两个定义边界之间通过测量头系统反馈进行控制的一种扫描方法。 |
| 扫描过程 Scanning Sequence | 坐标测量机的一系列连续自动化步骤,包括从一个中间点经过扫描到下一个中间点的运动。 |
| 高密度点 High Point Density | 修正扫描点的分布,两个连续扫描点之间的距离小于或等于 0.1 毫米。 |
| 低密度点 Low Point Density | 修正扫描点的分布,两个连续扫描点之间的距离大于或等于 1 毫米。 |
| 物理标准 Physical Standard | 用于表示几何要素长度量值可追溯值的量具实体。 |
| 长度量具实体 Length Standard | 表示长度要素的物理标准。 |
| 校准球(参考球) Calibration Sphere (Reference Sphere) | 放置在坐标测量机测量体积内,用于校准测头系统的球形长度量具实体。 |
| 测试球 Test Sphere | 用于验收测试和再验证测试的球形长度量具实体。 |
| 坐标测量机长度测量显示偏差 Display Error of CMM for Length Measurement | 在两个相对触测点上,沿法线方向在两个名义平行表面上进行测量时,确定长度量具实体值的显示偏差。 |
| 最大允许长度测量显示偏差 Maximum Permissible Display Error for Length Measurement | 坐标测量机长度测量显示偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 触测偏差 Probing Error | 坐标测量机在单点触测模式下,使用测头在测试球上测量球形量具实体时,其半径跨度所在的显示偏差。 |
| 最大允许触测偏差 Maximum Permissible Probing Error | 坐标测量机触测偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 径向四轴偏差 Radial Four-Axis Error | 在工件坐标系中,以回转台轴为第四轴,坐标测量机测量的测试球中心位置的显示偏差的径向范围。 |
| 切向四轴偏差 Tangential Four-Axis Error | 在工件坐标系中,以回转台轴为第四轴,坐标测量机测量的测试球中心位置的显示偏差的切向范围。 |
| 轴向四轴偏差 Axial Four-Axis Error | 在工件坐标系中,以回转台轴为第四轴,坐标测量机测量的测试球中心位置的显示偏差的轴向范围。 |
| 最大允许径向四轴偏差 Maximum Permissible Radial Four-Axis Error | 坐标测量机径向四轴偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许切向四轴偏差 Maximum Permissible Tangential Four-Axis Error | 坐标测量机切向四轴偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许轴向四轴偏差 Maximum Permissible Axial Four-Axis Error | 坐标测量机轴向四轴偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 扫描触测偏差 Scanning Probing Error | 在扫描模式下,使用单测头测量测试球时,其半径跨度所在的显示偏差。 |
| 最大允许扫描触测偏差 Maximum Permissible Scanning Probing Error | 坐标测量机扫描触测偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 扫描测试时间 Scanning Test Time | 从第一个扫描过程开始到最后一个扫描过程结束所需的时间。 |
| 最大允许扫描测试时间 Maximum Permissible Scanning Test Time | 坐标测量机扫描测试时间的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 固定多测头系统的形状偏差 Form Error of Fixed Multi-stylus System | 使用高斯拟合时,固定多测头系统在测试球上测量时,其半径跨度所在的显示偏差。 |
| 固定多测头系统的尺寸偏差 Size Error of Fixed Multi-stylus System | 使用高斯拟合时,固定多测头系统在测试球上测量时,其直径所在的显示偏差。 |
| 固定多测头系统的位置偏差 Location Error of Fixed Multi-stylus System | 使用高斯拟合时,固定多测头系统在测试球上测量时,其球心坐标跨度所在的显示偏差。 |
| 最大允许固定多测头系统形状偏差 Maximum Permissible Form Error of Fixed Multi-stylus System | 坐标测量机固定多测头系统形状偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许固定多测头系统尺寸偏差 Maximum Permissible Size Error of Fixed Multi-stylus System | 坐标测量机固定多测头系统尺寸偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许固定多测头系统位置偏差 Maximum Permissible Location Error of Fixed Multi-stylus System | 坐标测量机固定多测头系统位置偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 旋转 - 摆动测头系统的形状偏差 Form Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 使用高斯拟合时,旋转 - 摆动测头系统在测试球上测量时,其半径跨度所在的显示偏差。 |
| 旋转 - 摆动测头系统的尺寸偏差 Size Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 使用高斯拟合时,旋转 - 摆动测头系统在测试球上测量时,其直径所在的显示偏差。 |
| 旋转 - 摆动测头系统的位置偏差 Location Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 使用高斯拟合时,旋转 - 摆动测头系统在测试球上测量时,其球心坐标跨度所在的显示偏差。 |
| 最大允许旋转 - 摆动测头系统形状偏差 Maximum Permissible Form Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 坐标测量机旋转 - 摆动测头系统形状偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许旋转 - 摆动测头系统尺寸偏差 Maximum Permissible Size Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 坐标测量机旋转 - 摆动测头系统尺寸偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 最大允许旋转 - 摆动测头系统位置偏差 Maximum Permissible Location Error of Rotary-Tilting Measuring Head System | 坐标测量机旋转 - 摆动测头系统位置偏差的极限值,由规范、法规等允许。 |
| 高斯拟合几何要素 Associated Geometrical Feature by Gaussian | 偏差平方和为最小的几何要素。 |
| 几何要素参数化 Parametrization of a Geometrical Feature | 用于表示几何要素的代数变量选择。 |
| 参考数据集 Reference Data Set | 用于测试计算高斯拟合几何要素软件的数据集。 |
| 参考参数值 Values of Reference Parameters | 特定参考数据集在参考参数化中的参数的数值,由测试机构生成,用于比较。 |
| 参考参数化 Reference Parametrization | 测试机构应用的几何要素参数化。 |
| 参考残差 Reference Residuals | 与参考数据集相关的残差。 |
| 参考软件 Reference Software | 用于计算参考参数值和参考残差的软件。 |
| 残差 Residual | 从数据集中的点到高斯拟合几何要素的最小垂直距离。 |
| 转换规则 Conversion Rule | 将测试参数化中的参数数值转换为参考参数化中参数数值的规则。 |
| 转换后的测试参数值 Converted Values of Test Parameters | 应用转换规则到测试参数值后获得的参数数值。 |
| 测试参数值 Values of Test Parameters | 测试参数化中参数的数值,由待测软件计算。 |
| 测试参数化 Test Parametrization | 待测软件使用的几何要素参数化。 |
| 测试残差 Residual in Test | 由待测软件计算的残差。 |
| (采集)范围 (Acquisition) Range | 由点采集的高斯拟合几何要素的范围。 |
| 参考对(用于测试) Reference Pair (for Test Purposes) | 参考数据集及其相关的参考参数值。 |
| 坐标测量机 无特定型号 | 适用于测量空间坐标的测量系统,配备有用于移动测量头系统以确定工件表面点空间坐标的手段。 |
Copyright ?2007-2026 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
页面更新时间: 2026-06-06 19:51