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为了控制材料品质及其物理、化学特性，在材料科学与工程的许多领域都需要描述颗粒的三维特征，因此，材料三维（3D）显微组织形态的实验观测和科学定量表征是材料学科的核心问题之一[1]，也是材料科学与工程领域的焦点和难点[2]。目前已经发展了多种测量方法和测量仪器。其中，光学显微镜是研究微纳材料的重要工具...
摘要：与传统正投影显微图像分析方法不同，本文应用斜投影法，通过变换观测颗粒群的角度，依据获得的光学显微镜下颗粒群的信息，推导出了颗粒群厚度的计算公式，并讨论了厚度分辨能力与倾斜角、放大倍数之间的关系，同时应用实例证明了该方法的可行性。?关键词:斜投影；显微图像分析;三维重构；体视学中图分类号...
实际操作时，可以先根据估计的颗粒的厚度，选择合适的放大倍数和所需倾斜的角度，比如估计颗粒的厚度大约为1μm，则可以通过上表的数据选用相应的条件，如可选择放大倍数40×时，倾斜角为15～30°；或者选用放大倍数100×时，倾斜角为5～30°。3 测试方法本文就光学显微镜下颗：穸炔饬课侍饨辛舜罅康...
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