美利体育登录入口官网:DIN EN 60749-4:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热、稳态、高加速应力试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
- 标准号
- DIN EN 60749-4:2003
- 发布
- 2003年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.01 半导体器分立件综合
- 总页数
- 10页
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-4:2017
- DIN EN 60749-4:2003-04
- 当前最新
- DIN EN 60749-4:2017-11
- 引用标准
- IEC 60749-5
- 被代替标准
- DIN EN 60749:2002
- 本体
- Prüfeinrichtung
- 适用范围
- DIN EN 60749 的这一部分提供了高度加速的温度和湿度应力测试 (HAST)，用于评估非气密封装半导体器件在潮湿环境中的可靠性。
| HAST-Prüfverfahren Highly Accelerated Stress Test (HAST) | Ein Prüfverfahren, das versch?rfte Bedingungen für Temperatur, Feuchte und elektrische Spannung verwendet, um das Eindringen von Feuchtigkeit durch die ?u?eren schützenden Werkstoffe oder entlang der physikalischen Grenzfl?chen zu beschleunigen. |
| Halbleiterbauelemente Semiconductor devices | Nicht hermetisch verkappte Bauelemente, deren Zuverl?ssigkeit in feuchten Umgebungen durch das HAST-Prüfverfahren beurteilt wird. |
| Prüfeinrichtung Test facility | Eine Druck-Prüfkammer, die in der Lage ist, die festgelegte Temperatur und relative Luftfeuchte st?ndig aufrechtzuerhalten, w?hrend die zu prüfenden Bauelemente elektrisch belastet werden. |
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| Druck-Prüfkammer | Eine Kammer, die in der Lage ist, die festgelegte Temperatur und relative Luftfeuchte st?ndig aufrechtzuerhalten, w?hrend die zu prüfenden Bauelemente (DUT) elektrisch belastet werden. |