美利体育登录入口官网:IPC TM-650 2.5.17.2-1998
两线方法,高密度互连(HDI)和微通孔设计指南导电材料的体积电阻
Volume Resistivity of Conductive Materials Used in High Density Interconnection (HDI) and Microvias, Two-Wire Method
- 标准号
- IPC TM-650 2.5.17.2-1998
- 发布
- 1998年
- 国际标准分类(ICS)
- 83.180 粘合剂和胶粘产品
- 总页数
- 3页
- 发布单位
- 美国电子电路和电子互连行业协会
- 本体
- 体积电阻率
- 适用范围
- 该规范规定了印制板的一般要求以及采购印制板时必须满足的质量和可靠性保证要求。本规范的目的是让印制板用户和供应商能够灵活地制定印制板制造和采购的最佳程序。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 体积电阻率 Volume Resistivity | 一种材料属性，可用于计算电路设计中的电阻。对于高电阻率材料，可使用双线电阻测试来测量体积电阻率。电阻（R）与测试电路的尺寸和材料固有的体积电阻率（ρ）相关。 |
美利体育登录入口官网: IPC TM-650 2.5.17.2-1998 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 轮廓仪 用于测量厚度的美利体育官网首页网址 | 用于确定电路厚度，特别是在电路厚度不均匀时，通过平均读数来确定平均厚度。 |
| 丝网印刷机 能够制作 0.5 mm 线宽/间距电路的美利体育官网首页网址 | 用于制备测试样品，也可使用其他方法制备所需的电路图案。 |
| 光学显微镜 用于截面分析 | 用于通过截面/光学显微镜方法确定电路厚度，当电路厚度非常均匀时，光学切片是首选方法。 |
| 数字万用表 Fluke 70 系列或具有 0.1 Ω 分辨率的校准美利体育官网首页网址 | 用于测量测试电路导体的电阻，要求分辨率至少为 0.1 Ω，并需准确校准。 |
