| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 贮存期 Storaging Term | 元器件从生产完成并在生产厂检验合格后至装机前在一定的环境条件下存放的时间。 |
| 基本有效贮存期 Basic Valid Storaging Term | 未考虑元器件质量等级的有效贮存期。 |
| 贮存质量等级 Storaging Quality Class | 根据元器件在制造、检验过程中质量控制的严格程度,对元器件贮存后性能的影响而确定的等级。本标准中分为Q1、Q2、Q3、Q4四个等级。 |
| 贮存期调整系数 Storaging Term Adjustment Coefficient | 根据元器件不同的贮存质量等级和用途,对基本有效贮存期进行调整的系数。 |
| 继续有效期 Continued Valid Term | 超期复验合格的元器件在规定的贮存环境条件下存放,其批质量能满足要求的期限。 |
| 破坏性物理分析 Destructive Physical Analysis | 通过破坏性手段对元器件进行物理、化学分析,以检查其内部结构、材料和工艺是否存在缺陷或失效模式。 |
| 低温弯曲试验装置 符合GJB 17.21要求的装置 | 用于对电线、电缆进行低温弯曲试验,评估其在低温条件下的机械性能。 |
| 放大镜或显微镜 3-10倍放大镜或显微镜 | 用于进行元器件外观质量检查,观察引出端断裂、锈蚀、表面损伤及涂层脱落等情况。 |
| 烘箱 符合GJB 17.6要求的烘箱 | 用于进行电线、电缆及某些元器件的烘箱老化试验,模拟高温环境下的性能变化。 |
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