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美利体育登录入口官网:IEC 60793-1-21:2001
光纤 第1-21部分:测量方法和试验规程 被覆层几何结构

Optical fibres - Part 1-21: Measurement methods and test procedures - Coating geometry


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IEC 60793-1-21:2001

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标准号
IEC 60793-1-21:2001
发布
2001年
ICS
33.180.01
总页数
38页
中文版
GB/T 15972.21-2008 (修改采用的中文版本)
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60793-1-21:2001
 
 
引用标准
IEC 60793-1-20
被代替标准
IEC 86A/686/FDIS:2001 IEC 60793-1-2:1995 IEC 60793-1-2 AMD 1:1996 IEC 60793-1-2 AMD 2:2000 IEC 60793-1-2 Edition 1.2:2001
 
 
本体
包层 涂覆层

IEC 60793 的这一部分规定了测量光纤涂层几何形状的统一要求。涂层几何形状测量是后续程序(例如布线、连接、拼接、处理和进行其他测量)需要了解的基本值。

术语 
涂覆层 Coating
初级涂覆层 Primary coating
次级涂覆层或“缓冲涂覆层” Secondary or buffer coating

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光学显微镜

配备高质量物镜,透射光照明,放大倍数通常为×100至×200
用于方法A(侧视光分布)的测量,通过目镜或CCD相机观察光纤图像以测量涂覆层尺寸。
激光测径仪

工作波长633 nm,配备扫描装置和探测器
用于方法A的测量,通过评估激光束穿过光纤的偏转函数来测量尺寸。
电子测微计系统

如迈克尔逊双光路干涉仪,配备平面反射镜或角反射镜
用于方法B(机械测量),精确测量两个砧座之间的距离以确定涂覆层直径。

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