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IEC 60793 的这一部分规定了测量光纤涂层几何形状的统一要求。涂层几何形状测量是后续程序(例如布线、连接、拼接、处理和进行其他测量)需要了解的基本值。
| 术语 | |
|---|---|
| 涂覆层 | Coating |
| 初级涂覆层 | Primary coating |
| 次级涂覆层或“缓冲涂覆层” | Secondary or buffer coating |
| 光学显微镜 配备高质量物镜,透射光照明,放大倍数通常为×100至×200 | 用于方法A(侧视光分布)的测量,通过目镜或CCD相机观察光纤图像以测量涂覆层尺寸。 |
| 激光测径仪 工作波长633 nm,配备扫描装置和探测器 | 用于方法A的测量,通过评估激光束穿过光纤的偏转函数来测量尺寸。 |
| 电子测微计系统 如迈克尔逊双光路干涉仪,配备平面反射镜或角反射镜 | 用于方法B(机械测量),精确测量两个砧座之间的距离以确定涂覆层直径。 |
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