美利体育登录入口官网:BS EN ISO 10360-1:2001
产品几何技术规范(GPS).坐标测量机(CMM)的验收和复检试验.词汇表
Geometrical product specifications (GPS). Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM). Vocabulary
- 标准号
- BS EN ISO 10360-1:2001
- 发布
- 2001年
- 国际标准分类(ICS)
- 01.040.17 计量学和测量、物理现象 (词汇) 17.040.30 测量仪器仪表
- 总页数
- 58页
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN ISO 10360-1:2001
- 被代替标准
- 97/618004 DC:1997
- 本体
- 坐标测量机 探测系统 测针
- 适用范围
- ISO 10360 的这一部分建立了坐标测量机 (CMM) 及其验收和验证测试的词汇表。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 坐标测量机 coordinate measuring machine | 具有移动探测系统的手段并能够确定工件表面空间坐标的测量系统。 |
| 坐标测量 coordinate measurement | 由坐标测量机（CMM）进行的坐标测量。 |
| 测量体积 measuring volume | 坐标测量机的测量范围，表示为坐标测量机测量的所有空间坐标的同时极限。 |
| 工件坐标系 workpiece coordinate system | 相对于工件固定的坐标系。 |
| 机器坐标系 machine coordinate system | 相对于坐标测量机的物理或计算轴固定的坐标系。 |
| 探测系统 probing system | 由测头以及（如存在时）测头延长件、测头更换系统、测针、测针更换系统和测针延长件组成的系统。 |
| 探测 probing | 导致确定坐标值的行为。 |
| 离散点探测 discrete-point probing | 一种特定的探测模式，其中在离开中间点后直接评估指示的测量点的记录。 |
| 扫描 scanning | 一种特定的探测模式，用于获取连续的测量点以表征 inspected 表面上的线条。 |
| 程序点 program point | 用坐标表示的任何点，用于控制探测系统指定点的移动。 |
| 中间点 intermediate point | 一种特殊的程序点，在该点上不进行探测。 |
| 指示的测量点 indicated measured point | 探测系统的一个指定点，在该点发生探测时指示其坐标。 |
| 校正后的测量点 corrected measured point | 基于指示的测量点对工件表面上的点的估计。 |
| 目标接触点 target contact point | 名义积分特征上预期的接触点。 |
| 实际接触点 actual contact point | 测针触头与真实特征之间的接触点。 |
| 触头校正向量 tip correction vector | 用于将指示的测量点转换为校正后的测量点的向量。 |
| 验收测试 acceptance test | 坐标测量机制造商和用户之间商定的一组操作，用于验证坐标测量机的性能是否符合制造商的声明。 |
| 复美利体育登录入口官网试 reverification test | 验证坐标测量机性能是否符合用户声明的测试，并按照与验收测试相同的程序执行。 |
| 中间检查 interim check | 由用户指定的测试，在复检之间执行，以维持对坐标测量机测量结果的信心水平。 |
| 高斯径向距离 Gaussian radial distance | 基于有限数量的校正测量点的基于高斯（最小二乘）球体的中心与同一球形材料标准上的校正测量点之间的距离。 |
| 范围 range | 名义上相同量的最大值与最小值之间的差。 |
| 滞后 hysteresis | 测量仪器的属性，其给定刺激的响应取决于先前刺激的序列。 |
| 悬臂 ram | 坐标测量机的一个组件，承载探测系统。 |
| 测头 probe | 在探测期间产生信号的美利体育官网首页网址。 |
| 接触式探测系统 contacting probing system | 需要与被测表面进行材料接触才能工作的探测系统。 |
| 非接触式探测系统 non-contacting probing system | 不需要与被测表面进行材料接触即可工作的探测系统。 |
| 光学探测系统 optical probing system | 使用光学系统进行探测从而创建校正后测量点的非接触式探测系统。 |
| 多测头系统 multi-probe system | 具有多个测头的探测系统。 |
| 关节式探测系统 articulating probing system | 可以通过手动或电动定位装置在各种空间角位置定向的探测系统。 |
| 探测系统资格认证 probing system qualification | 建立后续测量所需的探测系统参数的过程。 |
| 多测针 multiple styli | 包含多个测针系统（每个系统有一个或多个测针）或一个测针系统有多个测针，或具有多测头系统，或能够以多种方向关节式移动测针的探测系统。 |
| 测针 stylus | 由测针触头和轴组成的机械装置。 |
| 测针触头 stylus tip | 建立与工件接触的物理元件。 |
| 测针系统组件 stylus system components | 使能够与工件进行材料接触的机械组件，如测针延长件和测针。 |
| 测针系统 stylus system | 包括至少一个测针的测针系统组件的任何组合。 |
| 测针长度 stylus length | 从测针触头中心到轴肩部的距离。 |
| 测针触头偏移 stylus tip offset | 相对于在机器坐标系中建立的基准的测针触头中心的相对坐标。 |
| 旋转台 rotary table | 使工件相对于坐标测量机的线性运动轴旋转的工件安装装置。 |
| 旋转台设置 rotary table setup | 制造商指定的程序，用于将旋转台轴与坐标测量机的线性运动轴系统对齐（物理上或通过软件）。 |
| 离散点探测速度 discrete-point probing speed | 探测系统相对于工件在离散点探测时的速度大小。 |
| 扫描速度 scanning speed | 探测系统相对于工件在扫描时的速度大小。 |
| 回退距离 back off distance | 从新程序点到中间点的距离，其中中间点是根据前一个程序点建立的测针触头返回运动点。 |
| 校正后的扫描点 corrected scan point | 在扫描期间获得的校正后的测量点。 |
| 目标扫描线 target scan line | 目标接触点所在的线。 |
| 校正后的扫描线 corrected scan line | 由扫描期间获得的校正后的测量点描述的线。 |
| 目标扫描平面 target scan plane | 目标接触点所在的平面。 |
| 预定义路径扫描 pre-defined path scanning | 探测系统在两个定义端点之间的运动由目标扫描线引导的扫描方法。 |
| 非预定义路径扫描 not pre-defined path scanning | 探测系统在两个定义端点之间的运动由探测系统的反馈引导的扫描方法。 |
| 扫描序列 scan sequence | 坐标测量机的一组连接的自动化动作，包括从中间点到扫描再到另一个中间点的移动。 |
| 高密度点 high point density | 校正后的扫描点的分布，其中每两个连续扫描点之间的距离小于或等于 0.1 毫米。 |
| 低密度点 low point density | 校正后的扫描点的分布，其中每两个连续扫描点之间的距离大于或等于 1 毫米。 |
| 材料标准 material standard | 复现特征尺寸量可追溯值的材料测量。 |
| 尺寸材料标准 material standard of size | 复现尺寸特征的材料标准。 |
| 参考球 reference sphere | 放置在坐标测量机测量体积内用于探测系统资格认证的球形尺寸材料标准。 |
| 测试球 test sphere | 用于验收测试和复美利体育登录入口官网试的球形尺寸材料标准。 |
| 坐标测量机尺寸测量指示误差 error of indication of a CMM for size measurement | 可以通过坐标测量机确定的尺寸材料标准的尺寸的指示误差，测量通过两个名义上平行平面上相反的两个探测点进行，垂直于其中一个平面，探测点从相反方向接近。 |
| 坐标测量机尺寸测量最大允许指示误差 maximum permissible error of indication of a CMM for size measurement | 规格、法规等允许的坐标测量机尺寸测量指示误差的极端值。 |
| 探测误差 probing error | 可以通过坐标测量机确定的测试球半径范围的指示误差，测量在离散点探测模式下使用一个测针在测试球上进行。 |
| 最大允许探测误差 maximum permissible probing error | 规格、法规等允许的探测误差的极端值。 |
| 四轴径向误差 radial four-axis error | 在工件坐标系中，以旋转台轴为第四轴，由坐标测量机测量的测试球中心位置的指示误差的径向范围。 |
| 四轴切向误差 tangential four-axis error | 在工件坐标系中，以旋转台轴为第四轴，由坐标测量机测量的测试球中心位置的指示误差的切向范围。 |
| 四轴轴向误差 axial four-axis error | 在工件坐标系中，以旋转台轴为第四轴，由坐标测量机测量的测试球中心位置的指示误差的轴向范围。 |
| 最大允许四轴径向误差 maximum permissible radial four-axis error | 规格、法规等允许的以旋转台轴为第四轴的坐标测量机的四轴径向误差的极端值。 |
| 最大允许四轴切向误差 maximum permissible tangential four-axis error | 规格、法规等允许的以旋转台轴为第四轴的坐标测量机的四轴切向误差的极端值。 |
| 最大允许四轴轴向误差 maximum permissible axial four-axis error | 规格、法规等允许的以旋转台轴为第四轴的坐标测量机的四轴轴向误差的极端值。 |
| 扫描探测误差 scanning probing error | 可以通过坐标测量机确定的测试球半径范围的指示误差，测量通过扫描使用一个测针进行。 |
| 最大允许扫描探测误差 maximum permissible scanning probing error | 规格、法规等允许的扫描探测误差的极端值。 |
| 扫描测试时间 time for scanning test | 从第一个扫描序列开始到最后一个扫描序列完成所经过的时间。 |
| 最大允许扫描测试时间 maximum permissible time for scanning test | 规格、法规等允许的扫描测试时间的极端值。 |
| 固定多测针探测系统形状误差 fixed multiple-stylus probing system form error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的半径范围的指示误差，测量在离散点探测模式下使用固定多测针进行。 |
| 固定多测针探测系统尺寸误差 fixed multiple-stylus probing system size error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的直径的指示误差，测量在离散点探测模式下使用固定多测针进行。 |
| 固定多测针探测系统位置误差 fixed multiple-stylus probing system location error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的中心坐标范围的指示误差，测量在离散点探测模式下使用固定多测针进行。 |
| 最大允许固定多测针探测系统形状误差 maximum permissible fixed multiple-stylus probing system form error | 规格、法规等允许的固定多测针探测系统形状误差的极端值。 |
| 最大允许固定多测针探测系统尺寸误差 maximum permissible fixed multiple-stylus probing system size error | 规格、法规等允许的固定多测针探测系统尺寸误差的极端值。 |
| 最大允许固定多测针探测系统位置误差 maximum permissible fixed multiple-stylus probing system location error | 规格、法规等允许的固定多测针探测系统位置误差的极端值。 |
| 关节式探测系统形状误差 articulated probing system form error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的半径范围的指示误差，测量在离散点探测模式下使用关节式探测系统进行。 |
| 关节式探测系统尺寸误差 articulated probing system size error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的直径的指示误差，测量在离散点探测模式下使用关节式探测系统进行。 |
| 关节式探测系统位置误差 articulated probing system location error | 可以通过最小二乘拟合在测试球上测量的点确定的中心坐标范围的指示误差，测量在离散点探测模式下使用关节式探测系统进行。 |
| 最大允许关节式探测系统形状误差 maximum permissible articulated probing system form error | 规格、法规等允许的关节式探测系统形状误差的极端值。 |
| 最大允许关节式探测系统尺寸误差 maximum permissible articulated probing system size error | 规格、法规等允许的关节式探测系统尺寸误差的极端值。 |
| 最大允许关节式探测系统位置误差 maximum permissible articulated probing system location error | 规格、法规等允许的关节式探测系统位置误差的极端值。 |
| 高斯关联特征 Gaussian associated feature | 残差平方和最小的关联特征。 |
| 特征参数化 parametrization of a feature | 选择代数变量来表示特征。 |
| 参考数据集 reference data set | 为测试拟合高斯关联特征的软件而产生的数据集。 |
| 参考参数值 reference parameter values | 特定参考数据集中参考参数化参数的数值，由测试机构产生，用作比较的参考。 |
| 参考参数化 reference parametrization | 测试机构使用的特征参数化。 |
| 参考残差 reference residual | 与参考数据集相关的残差。 |
| 参考软件 reference software | 用于计算数据集中的高斯关联特征的参考参数值和参考残差的软件。 |
| 残差 residual | 关联特征到数据集中某点的最小垂直距离。 |
| 转换规则 conversion rule | 将测试参数化中的参数数值转换为参考参数化中的参数数值的规则。 |
| 转换后的测试参数值 converted test parameter values | 通过应用转换规则到测试参数值而获得的参数数值。 |
| 测试参数值 test parameter values | 由被测软件计算的测试参数化中的参数的数值。 |
| 测试参数化 test parametrization | 被测软件使用的特征参数化。 |
| 测试残差 test residual | 由被测软件计算的残差。 |
| 扩展（数据集） extent | 由点采样的关联特征区域。 |
| 参考对 reference pair | 测试参考数据集和相应的参考参数值。 |
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| 坐标测量机 无特定型号，泛指各类结构（如悬臂式、桥式、龙门式等） | 具有移动探测系统的手段并能够确定工件表面空间坐标的测量系统。 |
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